泄放電阻組成保護電路在測量時應注意這些元器件對測量數(shù)據(jù)影響

發(fā)布時間:2024/7/6 22:38:55 訪問次數(shù):82

大功率達林頓三極管在普通達林頓管的基礎上增加了由續(xù)流二極管和泄放電阻組成的保護電路，在測量時應注意這些元器件對測量數(shù)據(jù)的影響。

反向若測得集電結(jié)的正、反向電阻值均很小或均為無窮大，則說明該管已擊穿短路或開路損壞。

用萬用表R×100擋測量達林頓三極管發(fā)射極e與基極b之間的正、反向電阻值，正常值均為幾百歐姆至幾千歐姆（具體數(shù)據(jù)根據(jù)b、e極之間兩只電阻器的阻值不同而有所差異）。若測得阻值為0或為無窮大，則說明被測管已損壞。

針對應用于2兆瓦范圍的電力電子系統(tǒng)，當下關注的焦點是采用何種技術以及具有多久的生命周期。

預期使用壽命主要由功率循環(huán)（PC）進行驗證。半導體中的電流變化會導致組裝和連接產(chǎn)生溫度偏差，上電最初幾秒內(nèi)的熱波動使得鍵合線由于熱膨脹而產(chǎn)生微小移動。長遠來看，這些移動會導致諸如鍵合線脫落或在鍵合點斷裂的缺陷。

壓接型結(jié)構(gòu)無需鍵合線，且不存在大面積焊線，因此，與焊接型結(jié)構(gòu)相比，壓接型IGBT理應能允許更多次的功率循環(huán)。LM258DR

可自動選擇三種充電模式：自動涓流充電、恒流和恒壓充電。

兼容USB，可通過USB充電，具有端口自動檢測功能。

100%引腳配置，無需軟件。

可延長任何使用充電電池的基于nRF52®或nRF53®系列SoC應用的電池壽命。

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