在完整的芯片設(shè)計流程中，等價性驗證工具被廣泛應(yīng)用到設(shè)計流程中的各個不同階段。

諸如系統(tǒng)C模型級對RTL級、RTL級對RTL級、RTL級對門級以及門級實現(xiàn)之間，工程師需要檢驗變換前后的功能一致性，證明設(shè)計的變換或優(yōu)化沒有產(chǎn)生功能的變化。

貫穿IC設(shè)計全流程的三大等價檢查功能 SEC、LEC、HECGalaxEC已具備當(dāng)下各類主流等價性驗證工具的所有核心功能，服務(wù)場景貫穿于數(shù)字芯片設(shè)計從系統(tǒng)級到前后端設(shè)計的各個階段，可一站式滿足用戶全流程等價性驗證需求，避免多工具切換成本，幫助工程師確保不同層次設(shè)計之間的一致性，支持遍歷式驗證，發(fā)現(xiàn)深層次的臨界設(shè)計錯誤，確保設(shè)計的正確性并實現(xiàn)正式簽核。

不管是在信號完整性中，還是電源完整性中，對于很多器件，包括芯片的封裝、傳輸線、過孔、連接器、線纜、電容等無源器件都會應(yīng)用S參數(shù)來表征其特性，對于一個完整的通道就需要對很多個S參數(shù)進行級聯(lián)，在ADS中可以非常方便的級聯(lián)各類S參數(shù)，并非常靈活的進行S參數(shù)仿真以及數(shù)據(jù)的處理。

對于單一的S參數(shù)，也可以在ADS中直接通過S參數(shù)查看器，檢查S參數(shù)的單端和混合模式的結(jié)果，在S參數(shù)查看器中，還可以檢查S參數(shù)的無源性、互易性、相位以及Smith圖。通過S參數(shù)仿真之后，在數(shù)據(jù)顯示窗口，可以查看結(jié)果曲線，也可以進一步處理數(shù)據(jù)，加入規(guī)范模板等等。

DDR采用菊花鏈拓撲結(jié)構(gòu)時，由于信號傳輸線較長通常需要在DDR末端加上終端匹配電阻，端接的方式有很多，但是都是為了解決信號的反射問題，通常為了消除信號的反射可以在信號的源端或者終端進行解決，在源端處消除反射是采用電阻串聯(lián)的方式，在終端處消除反射是采用電阻并聯(lián)的方式.

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