王國榮 石油大學機電學院 雙 凱

     來源：《單片機與嵌入式系統(tǒng)應用》

     摘要：非接觸id卡具有數據讀數速度快、抗干擾能力強、價格低等特點，在自動識別系統(tǒng)中有良好的應用前景。本文分析非接觸id卡的數據讀取及數據校驗的操作，并給出相應的源程序。

     關鍵詞：非接觸id卡

     自動識別 數據讀取及校驗

     隨著半導體芯片技術的不斷發(fā)展，自動識別系統(tǒng)（如巡更系統(tǒng)、門禁系統(tǒng)、考勤系統(tǒng)、倉儲管理系統(tǒng)、流水線生產自動化管理系統(tǒng)等）所采用的id標識也在不斷地更新，從條形碼、磁卡到智能ic卡、非接觸id卡，都有各自的特點及適用場合，表1列出了幾種id標識的特性與區(qū)別。在實踐應用過程中，用戶可根據不同的使用環(huán)境及功能要求選擇不同的id標識。

     非接觸id卡的數據讀取具有非常接觸的特性，即根據不同的硬件電路設計，可以在距離非接觸id卡4～10cm處讀取其數據。因此，讀取非接觸id卡數據無需機械接觸即可完成，避免了接觸式數據讀取而產生的卡損傷，從而大大提高了卡的使用壽命。此外，非接觸id卡還可以按不同的應用采用異型封裝，如硬幣型、柱型等，并可將其預埋于設備的混凝土基礎中，使其不容易受到外力破壞。

     1 非接觸id卡主要特性

     目前市場上非接觸id卡主要有臺灣凌航科技的gk4001卡和瑞士swatch集團的h4001卡。它們都采用125khz的典型工作頻率，有64位激光可編程rom，調制方式為曼徹斯***（manchester）調制，位數據傳送周期為512μs，其64位數據結構如圖1所示。

     連續(xù)9位“1”作為頭數據，是讀取數據時的同步標識；d00～d93位是用戶定義數據位；p0～p9是行奇校驗位，pc0～pc3是列奇校驗位，最后位“0”是結束標志。非接觸id卡的這種數據結構非常有利于判斷讀出數據的正確性。

     由于temic u2270b射頻基站的典型工作頻率為125khz，因此，可采用以u2270b作為射頻基站模塊構成的電路（參見本刊2001年第3期《temic

     rf卡讀寫器的設計》）來實現對非接觸id卡的數據讀取。在工作狀態(tài)下，只要射頻基站電路不斷電，非接觸id卡循環(huán)發(fā)送64位數據。

     2 非接觸id卡數據讀取及校驗

     根據曼徹斯***的編碼原則（參見本刊2001年第一期《一種采用曼碼調制的非接觸ic卡讀寫程序編制》），非接觸id卡采用上升沿對應著位數據“0”，下降沿對應著位數據“1”，微控制器通過檢測u2270b輸出數據位的跳變來實現對曼徹斯***的譯碼。在現實工作中，數據信號會受到調制、解調、噪聲各種效應的影響，其上升沿和下降沿存在抖動，可采用鍵盤消抖的辦法來消除抖動的影響。根據非接觸id卡64位數據循環(huán)發(fā)送以及其數據緒構特點，即數據流中第64位為“0”，第1位至第9位為“1”。據此，將“0111111111”作為讀數據的起始標識，如圖2所示。在確定了數據起始標識后，采用延時大于0.5t采樣數據位的方法，如圖3所示，來避開曼徹斯***編碼中的空跳對數據譯碼造成的影響，簡化了譯碼程序。

     通過實驗得到：480μs≤1t≤520μs，220μs≤0.5t≤280μs，由此取tnext=300μs。為了便于對讀出數據進行奇校驗，讀出數據每5位作為一個字節(jié)。因此確定起始標識和讀取數據對時鐘有嚴格要求，所以尋找起始標識和讀取數據部分程序采用匯編語言編寫。數據讀以后，根據前面所提到的非接觸id卡的數據結構，通過比較奇校驗算法與讀出數據中的奇校驗位來驗證出數據的正確性。非接觸id卡的數據讀取程序如下：

     ；------------------------------------------

     ；讀出數據程序

     ；晶振11.059 2mhz

     ；lable define

     ；-----------------------------------------

     tll equ