數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的研制
發(fā)布時間:2008/5/27 0:00:00 訪問次數(shù):592
     陳 波 來源:《電子技術(shù)應(yīng)用》
     摘要:介紹了基于向量測試法的測試系統(tǒng)原理、結(jié)構(gòu)組成以及各功能模塊工作過程。本系統(tǒng)是關(guān)技術(shù)員在總結(jié)多年的實際測試經(jīng)驗并參考國外同類測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上開發(fā)成功的,生產(chǎn)成本較低、性能可靠,是一種適合于國內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)的實際生產(chǎn)情況的測試系統(tǒng)。
    
    
     關(guān)鍵詞:集成電路
     測試系統(tǒng) 測試向量調(diào)制 精密測量單元(pmu)
     待測器件(dut) 時序產(chǎn)生器(tg) 圖形發(fā)生器(pg)
     隨著數(shù)字集成電路的應(yīng)用日趨廣泛和國家對半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展支持,國內(nèi)cmos數(shù)字集成電路設(shè)計能力得到了長足的發(fā)展。但,由于一般ic設(shè)計公司不會去考慮生產(chǎn)線設(shè)備的開發(fā),而大多數(shù)加工廠沒有系統(tǒng)研能力,因而國內(nèi)從事集成電路后直道加工的企業(yè)所用的測試設(shè)備大部分是從外引進(jìn),這些設(shè)備價格昂貴,操作復(fù)雜,在一定程序上增加了集成電路生產(chǎn)成本。
     為了擺脫集成電路生產(chǎn)上設(shè)備購買的高成本投入,我們研制開了集成電路測試設(shè)備,取得一定成果,并在測試技術(shù)方面積累了豐富的經(jīng)驗。下面就研發(fā)成功的數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)做一介紹。
     1 設(shè)計目標(biāo)
     該數(shù)字測試系統(tǒng)主要為數(shù)字集成電路測試提供一個硬件平臺,適用于任何采用向量輸入輸出測試方法。目前研制成功的測試系統(tǒng)工作在50mhz的主頻,主要參數(shù)指標(biāo)如下:
     ·最高測試速率:10mhz
     ·時序調(diào)整精度:1ns
     ·測試向量量大深度:64kbits×4page
     ·測試管腳數(shù):128pin(或64pin×2dut)
     ·電流測試能力:500ma
     ·iddq電流測試分辨率:0.122na
     ·測試向量電壓分辨率:2.5mv
     2 測試系統(tǒng)工作原理
     不管數(shù)字集成電路功能有多復(fù)雜,工作在多高的電壓,都可以將其看作一個二值邏輯器件。因此現(xiàn)在的大多數(shù)測試方法,不管是故障定位還是功能測試,都需要測試向量的輸入,而數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)實際上就是一個用于向量產(chǎn)生和比較的硬件平臺。
     所謂測試向量,就是一個串連續(xù)的“0”和“1”組成的數(shù)字序列。在測試數(shù)字ic之前,通過對測試要求和芯片功能的分兵,利用向量編程器先寫好測試所需的向量,定義好的向量的時序要求,并將其下載到測試系統(tǒng)的存儲器中,然后啟動測試系統(tǒng)的控制模塊?刂颇K按照事先寫好測試程序語句,按一定順序?qū)y試向量從存儲器中讀出并送到向量調(diào)制模塊。向量調(diào)制模塊對向量序列進(jìn)行波形調(diào)制電壓調(diào)制,最后送出與待測ic(dut)工作電壓匹配的波形序列。同時測試系統(tǒng)還監(jiān)測dut的輸出濾形,通過向量調(diào)制模塊將其轉(zhuǎn)換成與測試系統(tǒng)工作電平匹配的數(shù)字信號,測試系統(tǒng)將回送數(shù)字信號與預(yù)先設(shè)定的向量進(jìn)行比較,并鈄比較結(jié)果送給控制模塊進(jìn)行處理。測試系統(tǒng)原理如圖1所示。
     3 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的實現(xiàn)
     該測試系統(tǒng)按硬件電路功能可分成八大模塊:①計算機接口模塊;②時鐘發(fā)生(timing
     generator)模塊;③測試向量發(fā)生模塊(pattern generator);④參考電壓發(fā)生模塊(vi/vo);⑤精密測量單元(pmu);⑥dut電源供電模塊(dps);⑦管腳測試模塊(pe);⑧外部設(shè)備接口模塊。
     測試系統(tǒng)在實現(xiàn)采用自定義總線鴇,計算機通過總線實現(xiàn)對各模塊的數(shù)據(jù)讀寫操作,各模塊間也通過決線進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。為實現(xiàn)生產(chǎn)操作方便,該系統(tǒng)在硬件上分成兩大部分——主機和測試頭。除向量合成部分,其余模塊都在主機中完成。從各模塊產(chǎn)生的信號,包括時鐘同步信號、測試向量序列、參考電壓、pmu信號等一起送待測試頭總線。每個管腳測量模塊都包含各自向合成模塊,向量合成模塊從測試頭總線中獲取各種信號,按要求將它們合成最終的數(shù)字測試信號,或?qū)ut返順的信號進(jìn)行分析比較,將結(jié)果
     陳 波 來源:《電子技術(shù)應(yīng)用》
     摘要:介紹了基于向量測試法的測試系統(tǒng)原理、結(jié)構(gòu)組成以及各功能模塊工作過程。本系統(tǒng)是關(guān)技術(shù)員在總結(jié)多年的實際測試經(jīng)驗并參考國外同類測試系統(tǒng)的基礎(chǔ)上開發(fā)成功的,生產(chǎn)成本較低、性能可靠,是一種適合于國內(nèi)半導(dǎo)體行業(yè)的實際生產(chǎn)情況的測試系統(tǒng)。
    
    
     關(guān)鍵詞:集成電路
     測試系統(tǒng) 測試向量調(diào)制 精密測量單元(pmu)
     待測器件(dut) 時序產(chǎn)生器(tg) 圖形發(fā)生器(pg)
     隨著數(shù)字集成電路的應(yīng)用日趨廣泛和國家對半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展支持,國內(nèi)cmos數(shù)字集成電路設(shè)計能力得到了長足的發(fā)展。但,由于一般ic設(shè)計公司不會去考慮生產(chǎn)線設(shè)備的開發(fā),而大多數(shù)加工廠沒有系統(tǒng)研能力,因而國內(nèi)從事集成電路后直道加工的企業(yè)所用的測試設(shè)備大部分是從外引進(jìn),這些設(shè)備價格昂貴,操作復(fù)雜,在一定程序上增加了集成電路生產(chǎn)成本。
     為了擺脫集成電路生產(chǎn)上設(shè)備購買的高成本投入,我們研制開了集成電路測試設(shè)備,取得一定成果,并在測試技術(shù)方面積累了豐富的經(jīng)驗。下面就研發(fā)成功的數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)做一介紹。
     1 設(shè)計目標(biāo)
     該數(shù)字測試系統(tǒng)主要為數(shù)字集成電路測試提供一個硬件平臺,適用于任何采用向量輸入輸出測試方法。目前研制成功的測試系統(tǒng)工作在50mhz的主頻,主要參數(shù)指標(biāo)如下:
     ·最高測試速率:10mhz
     ·時序調(diào)整精度:1ns
     ·測試向量量大深度:64kbits×4page
     ·測試管腳數(shù):128pin(或64pin×2dut)
     ·電流測試能力:500ma
     ·iddq電流測試分辨率:0.122na
     ·測試向量電壓分辨率:2.5mv
     2 測試系統(tǒng)工作原理
     不管數(shù)字集成電路功能有多復(fù)雜,工作在多高的電壓,都可以將其看作一個二值邏輯器件。因此現(xiàn)在的大多數(shù)測試方法,不管是故障定位還是功能測試,都需要測試向量的輸入,而數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)實際上就是一個用于向量產(chǎn)生和比較的硬件平臺。
     所謂測試向量,就是一個串連續(xù)的“0”和“1”組成的數(shù)字序列。在測試數(shù)字ic之前,通過對測試要求和芯片功能的分兵,利用向量編程器先寫好測試所需的向量,定義好的向量的時序要求,并將其下載到測試系統(tǒng)的存儲器中,然后啟動測試系統(tǒng)的控制模塊?刂颇K按照事先寫好測試程序語句,按一定順序?qū)y試向量從存儲器中讀出并送到向量調(diào)制模塊。向量調(diào)制模塊對向量序列進(jìn)行波形調(diào)制電壓調(diào)制,最后送出與待測ic(dut)工作電壓匹配的波形序列。同時測試系統(tǒng)還監(jiān)測dut的輸出濾形,通過向量調(diào)制模塊將其轉(zhuǎn)換成與測試系統(tǒng)工作電平匹配的數(shù)字信號,測試系統(tǒng)將回送數(shù)字信號與預(yù)先設(shè)定的向量進(jìn)行比較,并鈄比較結(jié)果送給控制模塊進(jìn)行處理。測試系統(tǒng)原理如圖1所示。
     3 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的實現(xiàn)
     該測試系統(tǒng)按硬件電路功能可分成八大模塊:①計算機接口模塊;②時鐘發(fā)生(timing
     generator)模塊;③測試向量發(fā)生模塊(pattern generator);④參考電壓發(fā)生模塊(vi/vo);⑤精密測量單元(pmu);⑥dut電源供電模塊(dps);⑦管腳測試模塊(pe);⑧外部設(shè)備接口模塊。
     測試系統(tǒng)在實現(xiàn)采用自定義總線鴇,計算機通過總線實現(xiàn)對各模塊的數(shù)據(jù)讀寫操作,各模塊間也通過決線進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。為實現(xiàn)生產(chǎn)操作方便,該系統(tǒng)在硬件上分成兩大部分——主機和測試頭。除向量合成部分,其余模塊都在主機中完成。從各模塊產(chǎn)生的信號,包括時鐘同步信號、測試向量序列、參考電壓、pmu信號等一起送待測試頭總線。每個管腳測量模塊都包含各自向合成模塊,向量合成模塊從測試頭總線中獲取各種信號,按要求將它們合成最終的數(shù)字測試信號,或?qū)ut返順的信號進(jìn)行分析比較,將結(jié)果
熱門點擊
- 高準(zhǔn)確度時鐘程序算法
- 高端電流檢測的原理和電路
- 實時時鐘電路DS1302的原理及應(yīng)用
- 數(shù)字式溫度計DS18B20的特性及應(yīng)用
- 鋼琴琴鍵排列平整性的測量
- 電能計量專用芯片CS5460A
- 電話報警系統(tǒng)的設(shè)計
- 一種在線式漏電保護(hù)器測試儀的研制
- 汽車故障自診斷系統(tǒng)與故障診斷儀V.A.G15
- 煙道SO2含量在線監(jiān)測儀的研制
推薦技術(shù)資料
- AMOLED顯示驅(qū)動芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計
- GB300 超級芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究