作者：national semiconductor 公司 來源：《電子產(chǎn)品世界》

相位噪聲是無線應(yīng)用頻率合成器的一個關(guān)鍵性能參數(shù)。調(diào)相蜂窩系統(tǒng)（如phs，gsm和is-54）的rf設(shè)計(jì)為員需要低噪聲的本地振蕩器（lo）或頻率合成器單元。在調(diào)相系統(tǒng)中，合成器的綜合相位噪聲會影響收發(fā)器的rms相位誤差。頻率開關(guān)時間和基準(zhǔn)寄生抑制對調(diào)制解調(diào)器數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)來說也是關(guān)鍵參數(shù)。在鎖定條件下，較窄的環(huán)路濾波器帶寬將降低綜合相位噪聲，但增加pll（鎖相環(huán)）鎖定時間。本文描述對合成器所產(chǎn)生的鎖相環(huán)噪聲進(jìn)行量化的標(biāo)準(zhǔn)測量技術(shù)。

相位噪聲頻譜 單邊帶相位噪聲是任何頻率控制系統(tǒng)的關(guān)鍵性能參數(shù)。邊帶噪聲可變換成相關(guān)的頻帶，并降低系統(tǒng)靈敏度。pll噪聲特性的典型圖示于圖1。當(dāng)用頻譜分析儀時，頻譜的兩邊無疑是相同的。對于大多數(shù)系統(tǒng)來說，綜合相位噪聲不是"蘋果對蘋果"比較、因?yàn)檫@在很大程序上取決于分頻器比、環(huán)路濾波器帶度和pll的阻尼或相位余量。頻譜峰值和環(huán)路帶寬是環(huán)路帶寬的函數(shù)，而"環(huán)路內(nèi)"的噪聲通常正比于分頻器比。3db環(huán)路帶寬之外的噪聲下降很快，對綜合噪聲不會有重大影響。 相位/頻率比較器的功能是調(diào)節(jié)vco上的電壓，直到反饋信號的頻率（和相位）與基準(zhǔn)信號的頻率相匹配為止。當(dāng)這種"鎖相"條件存在時，vco的頻率將是比較頻率的n倍，這是n是可編程vco分頻比。假定出現(xiàn)在相位檢測器輸入端的任何噪聲都被乘以nn并且出現(xiàn)在pll的環(huán)路內(nèi)。這通常是合成器分頻器噪聲和相位檢測器噪聲。顯然，這是對pll噪聲特性的過于簡化，但確實(shí)是使相噪聲測量規(guī)范化的一種方案。

相位噪聲底值測量 我們所考慮的基本鎖相環(huán)配置示于圖3。pll由下列單元組成：一個高穩(wěn)定度晶體基準(zhǔn)振蕩器，一個頻率合成器（如national semiconductor lmx2332tm)，一個壓控振蕩器（vco）和一個無源環(huán)路濾波器。所用的晶體基準(zhǔn)是10mhz信號，來自頻譜分析儀，在大約+7dbm或1.42vpp外。此測試所用的vco是alps urae8x934vco，調(diào)諧常數(shù)為27mhz/v，鎖相在900mhz。由于采用相當(dāng)寬的環(huán)路濾波器帶寬（對對n=4500為15khz），所以基準(zhǔn)頻率能從30khz變化到400khz而不必改變元件數(shù)值，而且能保持環(huán)路的穩(wěn)定性。相位噪聲測量是在150hz偏頻下進(jìn)行的，這可保證數(shù)據(jù)是在曲線"環(huán)路內(nèi)"平坦部分。對于每次測量在1khz范圍至少取20次視頻平均值。為了符合標(biāo)準(zhǔn)相位噪聲底值因數(shù)，其頻譜分析儀測量必須按dbc/hz來規(guī)范化，即減去10log分辨率帶寬。然后減去20logn，噪聲就與相位檢測器的輸入有關(guān)了。不考慮來自頻譜分析儀的任何誤差，我們得到： 相位噪聲值=來自頻譜分析儀的相位噪聲-10log（頻譜分析儀分辨率帶寬）-20logn 結(jié)語 圖2示出lmx2332a的相位噪聲底值與相位檢測器頻率的關(guān)系圖。這表明相位噪聲底值不只低賴于分頻器比n。對于900mhz vco頻率和30khz通道間距，其相位噪聲底值小于-169dbc/hz。