混合IC測(cè)試系統(tǒng)有效降低測(cè)試成本
發(fā)布時(shí)間:2008/5/26 0:00:00 訪問次數(shù):488
    
    credence推出的sapphire d-10是為滿足 消費(fèi)電子產(chǎn)品市場(chǎng)的低成本測(cè)試需求而設(shè)計(jì)的混合信號(hào)ic測(cè)試系統(tǒng)。sapphire d-10是一個(gè)高產(chǎn)能、多功能的圓片和封裝測(cè)試解決方案,該方案是為微控制器、無線基帶、顯示驅(qū)動(dòng)器和消費(fèi)類混合信號(hào)器件的低成本測(cè)試解決方案而特別設(shè)計(jì)的。它具有集成度高、體積小、模塊化、較高的并行測(cè)試能力等特點(diǎn)。
    
    
    緊湊、高集成的設(shè)計(jì)平衡成本和性能——sapphire d-10體積小巧,比一臺(tái)中型個(gè)人電腦大不了多少,它不需要任何復(fù)雜的固定器械和環(huán)境設(shè)施,把它支起來,插上電源就能馬上使用,因而具有很好的便攜性,同一平臺(tái)既能應(yīng)用于桌面的調(diào)試開發(fā)和特性分析,也能應(yīng)用于量產(chǎn)測(cè)試。
    sapphire d-10含有高密度和高效的數(shù)字、模擬和電源通道。它支持768個(gè)數(shù)字通道和16個(gè)電源通道。同時(shí)其集成的混和信號(hào)技術(shù)在同一儀器上就能提供應(yīng)對(duì)高精度和高頻率的方法。對(duì)于大范圍的產(chǎn)品測(cè)試來說,一個(gè)寬頻、高效的設(shè)備能有效降低測(cè)試成本。在多種芯片需要同時(shí)被測(cè)試的情況下,采用一款這樣的系統(tǒng)能大大節(jié)省用戶的測(cè)試成本。
    高密度數(shù)字儀器、多頻段混和信號(hào)儀器也使得測(cè)試系統(tǒng)的配置簡(jiǎn)化,因?yàn)樾枰俚膬x器來達(dá)到需要的測(cè)試能力。高集成的設(shè)備也更簡(jiǎn)化了負(fù)載板、docking接口和manipulator接口的設(shè)計(jì)。高集成度同時(shí)也能大幅減少設(shè)計(jì)時(shí)需要的元件,最終降低測(cè)試平臺(tái)的成本。而且,更少的元件意味著更高的穩(wěn)定性和更短的停機(jī)時(shí)間,從而進(jìn)一步降低客戶總的測(cè)試成本。
    并行測(cè)試能力加速高量產(chǎn)測(cè)試——并行測(cè)試是通過同時(shí)測(cè)試多個(gè)芯片來降低測(cè)試成本的有效方法。sapphire d-10最多能進(jìn)行256個(gè)芯片同測(cè)。而且非常適合多site圓片測(cè)試,因?yàn)樗芴峁?68個(gè)200mbps的數(shù)字通道和高集成度的模擬和數(shù);旌蟽x器。許多傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試數(shù)字器件時(shí)能提供較高的并行效率,但測(cè)試模擬和混合信號(hào)器件時(shí)會(huì)大大降低。這通常是由于本地或遠(yuǎn)程的大量的數(shù)據(jù)傳送處理而造成的。sapphire d-10的交換式數(shù)據(jù)傳輸(switched data link)專為解決這個(gè)問題而設(shè)計(jì),它能快速地傳送大的數(shù)據(jù)包,并高效地進(jìn)行處理。
    采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的模塊化架構(gòu)具有很大靈活性——可再配置的sapphire d-10測(cè)試系統(tǒng)能靈活應(yīng)對(duì)多種類產(chǎn)品測(cè)試,優(yōu)化使用工廠或?qū)嶒?yàn)室空間。擁有十個(gè)可互換的儀器插槽,開放式結(jié)構(gòu)支持即插即用(plug and play)以及通用插槽功能,使得從工程應(yīng)用到產(chǎn)品并行測(cè)試或從數(shù)字到混和信號(hào)應(yīng)用非常易于拓展。
    該系統(tǒng)的儀器都兼容cpci 背板協(xié)議,因而具有很大的靈活性。基于這個(gè)開放式的架構(gòu),用戶能方便使用第三方成熟儀器定制自己的配置,進(jìn)一步拓展了平臺(tái)的靈活性和生命周期。同時(shí),用戶可通過集成自定制儀器到平臺(tái)中來實(shí)現(xiàn)一些特殊功能和特性分析測(cè)試的需求。
    此外,sapphire d-10具有高速的底層數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò),使數(shù)據(jù)能夠以500m字節(jié)/秒的速度在整個(gè)系統(tǒng)內(nèi)傳輸,同時(shí)又不明顯增加主機(jī)負(fù)擔(dān)。sapphire d-10還有一整套為測(cè)試程序開發(fā)、調(diào)試、產(chǎn)品特性分析以及量產(chǎn)而設(shè)計(jì)的專用軟件。它的軟件采用開放式結(jié)構(gòu),很容易訪問底層代碼,方便自定制程序編寫。d-10有自帶的產(chǎn)品測(cè)試界面,但同時(shí)也允許客戶和現(xiàn)場(chǎng)人員設(shè)計(jì)自己的界面,在工廠進(jìn)行無縫連接。
    網(wǎng)址:www.credence.com.cn
    
    
    
    credence推出的sapphire d-10是為滿足 消費(fèi)電子產(chǎn)品市場(chǎng)的低成本測(cè)試需求而設(shè)計(jì)的混合信號(hào)ic測(cè)試系統(tǒng)。sapphire d-10是一個(gè)高產(chǎn)能、多功能的圓片和封裝測(cè)試解決方案,該方案是為微控制器、無線基帶、顯示驅(qū)動(dòng)器和消費(fèi)類混合信號(hào)器件的低成本測(cè)試解決方案而特別設(shè)計(jì)的。它具有集成度高、體積小、模塊化、較高的并行測(cè)試能力等特點(diǎn)。
    
    
    緊湊、高集成的設(shè)計(jì)平衡成本和性能——sapphire d-10體積小巧,比一臺(tái)中型個(gè)人電腦大不了多少,它不需要任何復(fù)雜的固定器械和環(huán)境設(shè)施,把它支起來,插上電源就能馬上使用,因而具有很好的便攜性,同一平臺(tái)既能應(yīng)用于桌面的調(diào)試開發(fā)和特性分析,也能應(yīng)用于量產(chǎn)測(cè)試。
    sapphire d-10含有高密度和高效的數(shù)字、模擬和電源通道。它支持768個(gè)數(shù)字通道和16個(gè)電源通道。同時(shí)其集成的混和信號(hào)技術(shù)在同一儀器上就能提供應(yīng)對(duì)高精度和高頻率的方法。對(duì)于大范圍的產(chǎn)品測(cè)試來說,一個(gè)寬頻、高效的設(shè)備能有效降低測(cè)試成本。在多種芯片需要同時(shí)被測(cè)試的情況下,采用一款這樣的系統(tǒng)能大大節(jié)省用戶的測(cè)試成本。
    高密度數(shù)字儀器、多頻段混和信號(hào)儀器也使得測(cè)試系統(tǒng)的配置簡(jiǎn)化,因?yàn)樾枰俚膬x器來達(dá)到需要的測(cè)試能力。高集成的設(shè)備也更簡(jiǎn)化了負(fù)載板、docking接口和manipulator接口的設(shè)計(jì)。高集成度同時(shí)也能大幅減少設(shè)計(jì)時(shí)需要的元件,最終降低測(cè)試平臺(tái)的成本。而且,更少的元件意味著更高的穩(wěn)定性和更短的停機(jī)時(shí)間,從而進(jìn)一步降低客戶總的測(cè)試成本。
    并行測(cè)試能力加速高量產(chǎn)測(cè)試——并行測(cè)試是通過同時(shí)測(cè)試多個(gè)芯片來降低測(cè)試成本的有效方法。sapphire d-10最多能進(jìn)行256個(gè)芯片同測(cè)。而且非常適合多site圓片測(cè)試,因?yàn)樗芴峁?68個(gè)200mbps的數(shù)字通道和高集成度的模擬和數(shù)模混合儀器。許多傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試數(shù)字器件時(shí)能提供較高的并行效率,但測(cè)試模擬和混合信號(hào)器件時(shí)會(huì)大大降低。這通常是由于本地或遠(yuǎn)程的大量的數(shù)據(jù)傳送處理而造成的。sapphire d-10的交換式數(shù)據(jù)傳輸(switched data link)專為解決這個(gè)問題而設(shè)計(jì),它能快速地傳送大的數(shù)據(jù)包,并高效地進(jìn)行處理。
    采用業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的模塊化架構(gòu)具有很大靈活性——可再配置的sapphire d-10測(cè)試系統(tǒng)能靈活應(yīng)對(duì)多種類產(chǎn)品測(cè)試,優(yōu)化使用工廠或?qū)嶒?yàn)室空間。擁有十個(gè)可互換的儀器插槽,開放式結(jié)構(gòu)支持即插即用(plug and play)以及通用插槽功能,使得從工程應(yīng)用到產(chǎn)品并行測(cè)試或從數(shù)字到混和信號(hào)應(yīng)用非常易于拓展。
    該系統(tǒng)的儀器都兼容cpci 背板協(xié)議,因而具有很大的靈活性。基于這個(gè)開放式的架構(gòu),用戶能方便使用第三方成熟儀器定制自己的配置,進(jìn)一步拓展了平臺(tái)的靈活性和生命周期。同時(shí),用戶可通過集成自定制儀器到平臺(tái)中來實(shí)現(xiàn)一些特殊功能和特性分析測(cè)試的需求。
    此外,sapphire d-10具有高速的底層數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡(luò),使數(shù)據(jù)能夠以500m字節(jié)/秒的速度在整個(gè)系統(tǒng)內(nèi)傳輸,同時(shí)又不明顯增加主機(jī)負(fù)擔(dān)。sapphire d-10還有一整套為測(cè)試程序開發(fā)、調(diào)試、產(chǎn)品特性分析以及量產(chǎn)而設(shè)計(jì)的專用軟件。它的軟件采用開放式結(jié)構(gòu),很容易訪問底層代碼,方便自定制程序編寫。d-10有自帶的產(chǎn)品測(cè)試界面,但同時(shí)也允許客戶和現(xiàn)場(chǎng)人員設(shè)計(jì)自己的界面,在工廠進(jìn)行無縫連接。
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