頻率測(cè)量是電子測(cè)量中經(jīng)常遇到的問(wèn)題，如何提高頻率測(cè)量的準(zhǔn)確度是關(guān)鍵。通常采用的方法有低頻端測(cè)周高頻端測(cè)頻和多周期同步測(cè)量頻率。采用低頻端測(cè)周高頻端測(cè)頻時(shí)存在中界頻率測(cè)量誤差很大即測(cè)量死區(qū)問(wèn)題，也就是說(shuō)不論低端和高端測(cè)量準(zhǔn)確度有多高，中界頻率測(cè)量誤差總是最大。因此從理論上講頻率的測(cè)量準(zhǔn)確度很難提高到某個(gè)數(shù)量級(jí)；多周期同步測(cè)頻法則不存在這樣的問(wèn)題，只要周期數(shù)足夠大，測(cè)量的準(zhǔn)確度總可以提高到一定程度。但多周期同步測(cè)量實(shí)際上只是對(duì)被測(cè)信號(hào)進(jìn)行同步，對(duì)時(shí)鐘信號(hào)并未同步，因此它只是一種準(zhǔn)同步。本文根據(jù)多周期同步測(cè)頻原理及測(cè)量誤差，提出完全同步頻率測(cè)量的新方法，最后使用單片機(jī)實(shí)現(xiàn)這種測(cè)量，使測(cè)量頻率的準(zhǔn)確度大大提高。
1 多周期同步測(cè)頻原理及誤差分析
多周期測(cè)頻是在測(cè)周的基礎(chǔ)上，在信號(hào)的多個(gè)時(shí)間周期內(nèi)測(cè)量信號(hào)的頻率。由于被測(cè)信號(hào)控制門(mén)控信號(hào)的開(kāi)啟，所以稱(chēng)為同步測(cè)量。由于測(cè)頻和測(cè)周都會(huì)產(chǎn)生±1誤差(計(jì)數(shù)脈沖和門(mén)控信號(hào)不同步而產(chǎn)生)和標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差(所使用的晶振不穩(wěn)定引起)，且±1誤差較標(biāo)準(zhǔn)頻率誤差更大，多周期同步測(cè)頻也就是使測(cè)量的引誤差盡可能小。測(cè)量原理如圖1所示。

被測(cè)信號(hào)fx和標(biāo)準(zhǔn)晶振信號(hào)f0分別作為計(jì)數(shù)器A和B的計(jì)數(shù)脈沖，同步門(mén)信號(hào)作為主門(mén)A和B的門(mén)控信號(hào)，而同步門(mén)信號(hào)由被測(cè)信號(hào)fx和時(shí)間控制器共同控制。被測(cè)信號(hào)作為同步門(mén)的觸發(fā)信號(hào)，時(shí)間控制器控制同步門(mén)的預(yù)置時(shí)間Tˊ。開(kāi)始測(cè)量時(shí)，稍滯后的預(yù)置時(shí)間處于被測(cè)信號(hào)的某一周期低電子或高電子處，同步門(mén)尚未開(kāi)啟，這時(shí)被測(cè)信號(hào)和晶振脈沖信號(hào)都不會(huì)被計(jì)數(shù)。只有當(dāng)被測(cè)信號(hào)下一個(gè)周期的上升沿到達(dá)時(shí)同步門(mén)才開(kāi)啟(這里假定觸發(fā)器為上升沿觸發(fā))，被測(cè)信號(hào)和晶振脈沖信號(hào)才開(kāi)始計(jì)數(shù)。當(dāng)時(shí)間控制器預(yù)置時(shí)間了，結(jié)束時(shí)，同步門(mén)不會(huì)立即關(guān)閉，而是等到被測(cè)信號(hào)下一個(gè)上升沿到來(lái)時(shí)才關(guān)閉。這時(shí)計(jì)數(shù)器A和B都停止計(jì)數(shù)，實(shí)際上同步門(mén)的開(kāi)啟時(shí)間為T(mén)而不是Tˊ。所以可以得到：

其中：T為同步門(mén)控時(shí)間；fx（Tx）為被測(cè)信號(hào)頻率(周期)；f0(T0)為標(biāo)準(zhǔn)晶振信號(hào)頻率(周期)；M為計(jì)數(shù)器A的計(jì)數(shù)值；N為計(jì)數(shù)器B的計(jì)數(shù)值。
根據(jù)誤差傳遞公式可以得到被測(cè)信號(hào)頻率的相對(duì)誤差

其中：△f0/ f0為標(biāo)準(zhǔn)晶振的頻率準(zhǔn)確度；△M/M為計(jì)數(shù)器A的計(jì)數(shù)相對(duì)誤差；△N/N為計(jì)數(shù)器B的計(jì)數(shù)相對(duì)誤差。
由于計(jì)數(shù)器A的計(jì)數(shù)是在與被測(cè)信號(hào)相關(guān)的同步門(mén)T進(jìn)行的，被測(cè)信號(hào)又作為同步門(mén)的觸發(fā)信號(hào)，且T/Tx為整數(shù)，故被測(cè)信號(hào)的計(jì)數(shù)值M不存在計(jì)數(shù)誤差，即△M/M =0。所以稱(chēng)這種測(cè)量誤差與被測(cè)信號(hào)無(wú)關(guān)的測(cè)量方法為同步測(cè)量。但由于晶振信號(hào)與門(mén)控信號(hào)不相關(guān)，門(mén)B必會(huì)產(chǎn)生量化誤差，所以△N ±1。而N=T/T0=M Tx/T0，M越大時(shí)，N就越大，△N/N就越小減，所以進(jìn)行多周期測(cè)量能小測(cè)量誤差。由此可見(jiàn)，這種多周期同步測(cè)頻法較簡(jiǎn)單的測(cè)頻測(cè)周法能明顯提高測(cè)量的準(zhǔn)確度，而且測(cè)量誤差與被測(cè)信號(hào)頻率無(wú)關(guān)，可以省去計(jì)算中界頻率和選擇測(cè)量模式；但由于△N/N 的存在，而且︱△N/N︱也遠(yuǎn)大于︱△f0/ f︱ (目前雙恒溫晶振的頻穩(wěn)度可達(dá)10-11~10-12數(shù)量級(jí))，所以這種測(cè)量模式對(duì)于要求10-7以上的高準(zhǔn)確度測(cè)量仍不能滿(mǎn)足需要，這種測(cè)量只能稱(chēng)作準(zhǔn)同步測(cè)量。
2多周期完全同步測(cè)頻原理
完全同步測(cè)量就是門(mén)控信號(hào)與被測(cè)信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)晶振信號(hào)都相關(guān)，測(cè)量開(kāi)始和結(jié)束時(shí)門(mén)控信號(hào)與被測(cè)信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)晶振信號(hào)都同步，也就是門(mén)控時(shí)間既是被測(cè)信號(hào)周期的整數(shù)倍又是晶振信號(hào)周期的整數(shù)倍。這樣在門(mén)控時(shí)間內(nèi)被測(cè)信號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)晶振信號(hào)都沒(méi)有量化誤差，從而實(shí)現(xiàn)兩信號(hào)的完全雙同步。這里巧妙地利用相位檢測(cè)技術(shù)控制同步觸發(fā)即可實(shí)現(xiàn)。當(dāng)兩路信號(hào)在某點(diǎn)相位相同，經(jīng)過(guò)若干周期后它們?cè)谕幌辔稽c(diǎn)相位又相同，那么這段時(shí)間兩路信號(hào)一定都經(jīng)過(guò)整數(shù)個(gè)周期(但周期數(shù)不一定相同)，用．它作為同步門(mén)控時(shí)間控制兩個(gè)主門(mén)的開(kāi)啟，兩個(gè)計(jì)數(shù)器都不會(huì)產(chǎn)生±1誤差，從而實(shí)現(xiàn)真正意義上的同步測(cè)量。測(cè)量原理如圖2所示。

被測(cè)信號(hào)和晶振信號(hào)經(jīng)過(guò)整形后都加到相位檢測(cè)器；相位檢測(cè)器檢測(cè)到兩路信號(hào)都在某一相位點(diǎn)(零相位點(diǎn))時(shí)產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)，門(mén)控電路輸出高電平，主門(mén)A和B同時(shí)打開(kāi)，計(jì)數(shù)器A和B同時(shí)計(jì)數(shù)；經(jīng)過(guò)時(shí)間了后，相位檢測(cè)器又檢測(cè)到兩路信號(hào)到達(dá)同一相位點(diǎn)，產(chǎn)生一觸發(fā)信號(hào)，這時(shí)門(mén)控電路輸出低電平，主門(mén)A和B同時(shí)關(guān)閉，計(jì)數(shù)器A和B停止計(jì)數(shù)。由于相檢器是從兩路信號(hào)的同一零相位點(diǎn)開(kāi)始觸發(fā)，另一個(gè)零相位點(diǎn)再次觸發(fā)，兩次觸發(fā)的時(shí)間間隔與兩路信號(hào)都相關(guān)，且是每路信號(hào)周期的整數(shù)倍。與前面的多周期測(cè)量一樣，T=MTx=NT0，fx=M/Nf0，△fx/fx=△M/M-△N/N+△f0/f0。但這時(shí)△M/M=0，△N/N=0，所以△fx/fx=△f0/f0。即被測(cè)信號(hào)的頻率準(zhǔn)確度與晶振的頻穩(wěn)度相等。從理論上看，被測(cè)信