集成運算放大器的結(jié)構(gòu)特點，決定了集成運算放大器的技術(shù)指標很多。各種主要參數(shù)均比較適中的是通用型運算放大器，對某些技術(shù)指標有特殊要求的是各種特種運算放大器。為了正確選用集成運放，有必要了解它的主要參數(shù)指標。集成運放組件的各項指標通常是用專用儀器進行測試的，以下詳細介紹各主要參數(shù)實驗室常用的簡易測試方法及調(diào)零消振的方法。

　　本實驗采用的集成運放型號為μa741，引腳排列如圖1所示。

圖1 μa74引腳排列

　　1．輸入失調(diào)電壓u_io。

　　輸入失調(diào)電壓u_io是表征運放內(nèi)部電路對稱性的指標。其定義為，欲使運放的輸出電壓為零，在運放的輸入級差分放大器所加的輸入電壓的數(shù)值。理想運放輸入信號為零時，其輸出直流電壓也應(yīng)為零。但實際上，如果無外界調(diào)零的措施，由于運放內(nèi)部差動輸入級參數(shù)的不完全對稱，輸出電壓則往往不為零。所以，這種零輸入時輸出不為零的現(xiàn)象稱為集成運放的失調(diào)。

　　測試失調(diào)電壓電路如圖2所示。閉合開關(guān)s1及s2使電阻rb短接，測量出此時輸出失調(diào)電壓u_o1，則輸入失調(diào)電壓為

　　測試中應(yīng)注意：

　　①將運放調(diào)零端開路：

　�、谝箅娮鑢₁和r₂，r₃和r_f的參數(shù)嚴格對稱：

　�、蹖嶋H測出的u_o1可能為正，也可能為負，高質(zhì)量的運放u_io一般在imv以下。

圖2 失調(diào)電壓測試電路

　　2．輸人失調(diào)電流i_io

　　輸入失調(diào)電流i_io定義為：當輸入信號為零時，運放的兩個輸入端的基極偏置電流之差，即

　　輸入失調(diào)電流的大小反映了運放內(nèi)部差動輸入級兩個晶體管β的不對稱程度，測試電路如圖2所示。首先，閉合開關(guān)s₁及s₂，在低輸入電阻下，測出輸出電壓u_o1，然后斷開s₁及s₂，兩個輸入電阻rb接入。由于rb阻值較大，流經(jīng)它們的輸入電流的差異，將變成輸入電壓的差異，因此，也會影響輸出電壓的大小，可見測出兩個電阻rb接入時的輸出電壓u_o，若從中扣除輸入失調(diào)電壓u_io的影響，則得到輸入失調(diào)電流為

　　測試中應(yīng)注意：

　�、賹⑦\放調(diào)零端開路；

　　②兩輸入端電阻r_b必須精確配對；

　�、踚_b1和i_b2本身的數(shù)值很�。ㄎ布墸�。

　　3．開環(huán)差模放大倍數(shù)a_uo

　　開環(huán)差模放大倍數(shù)a_uo定義為集成運放在沒有外部反饋時的直流差模電壓放大倍數(shù)，即開環(huán)輸出電壓u_o與兩個差分輸入端之間所加信號電壓u_id之比

　　a_uo的測試方法很多。a_uo本來是直流電壓放大倍數(shù)。但為了測試方便，通常采用低頻（幾十赫茲以下）正弦交流信號進行測量，由于集成運放的開環(huán)電壓放大倍數(shù)很高，難以直接進行測量，故一般采用閉環(huán)測量方法�，F(xiàn)如圖3所示采用交、直流電壓輸入，并且同時閉環(huán)的測試方法。被測運放一方面通過r_f，r₁，r₂完成直流閉環(huán)。以抑制輸出電壓漂移，另一方面通過rf和r_s，實現(xiàn)交流閉環(huán)，外加信號v_s經(jīng)r₁，r₂分壓使u_id足夠小，以保證運放工作在線性區(qū)。為了減小輸入偏置電流的影響，同相輸入端電阻r3應(yīng)與反相輸入端電阻相匹配。

圖3－16 開環(huán)差模增益avo的測試電路

被測運放的開環(huán)電壓放大倍數(shù)為

　　①測試前電路應(yīng)首先消振及調(diào)零；

　�、跒榱耸贡粶y運放工作在線性區(qū)，輸出信號幅度應(yīng)較小，無明顯失真；

　�、圯斎胄盘栴l率應(yīng)較低，一般用50～100 hz。

　　4．共模抑制比kc_mrr

　　共模抑制比定義為集成運放的差模電壓放大倍數(shù)與共模電壓放大倍數(shù)之比的絕對值

　　共模抑制比是衡量運放優(yōu)劣很重要的參數(shù)，理想運放對輸入的共模信號其輸出為零。但在實際的集成運 放中，其輸出不可能沒有共模信號的成分，輸出端共模信號愈小，k_cmrr愈大，說明