芯片外部開關(guān)噪聲
發(fā)布時(shí)間:2008/10/20 0:00:00 訪問次數(shù):428
驅(qū)動(dòng)器1由高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流路徑如圖1所示,驅(qū)動(dòng)器1對cp1,進(jìn)行充電回路在圖1中用實(shí)線表示。同時(shí)對cn1進(jìn)行放電回路在圖中用虛線表示。充、放電產(chǎn)生的電流都是從封裝的地引腳流出,從信號線流回,沒有經(jīng)過電源引腳;驅(qū)動(dòng)器1由低電平到高電平轉(zhuǎn)換時(shí),充、放電電流都是從信號線流出,從封裝的電源引腳流回,不經(jīng)過地引腳。
圖1 驅(qū)動(dòng)器1由高電平向低電平轉(zhuǎn)換的電流流向圖
不考慮圖1所示中的系統(tǒng)電源電感l(wèi)s,僅僅由封裝電感造成的電壓降為
由上式可知,這時(shí)芯片地和系統(tǒng)地并不是保持同樣的零電位,而是存在vgb的電壓波動(dòng),稱這種情況為地彈(ground bounce)。同樣,低電平到高電平轉(zhuǎn)換時(shí),由于感應(yīng)電壓的影響,芯片內(nèi)電源電壓將低于系統(tǒng)電源電壓,稱這種情況為電源反彈(power bounce)。
可以采取幾個(gè)常用的措施減小地彈:如降低驅(qū)動(dòng)器的邊沿速率,滿足時(shí)序要求的最慢邊沿速率將產(chǎn)生最小的噪聲;減小封裝回路電感,即減小自感或者增大互感;在芯片封裝內(nèi)部使用去耦旁路電容,在這種情況下驅(qū)動(dòng)器1從高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流路徑(如圖2所示),附加了額外的充電回路,封裝的電源引腳和地引腳共同分擔(dān)充電電流回路,從而減小電壓波動(dòng)。
圖2 芯片內(nèi)部加入去耦旁路電容后,驅(qū)動(dòng)器1從高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流流向
歡迎轉(zhuǎn)載,信息來自維庫電子市場網(wǎng)(www.dzsc.com)
驅(qū)動(dòng)器1由高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流路徑如圖1所示,驅(qū)動(dòng)器1對cp1,進(jìn)行充電回路在圖1中用實(shí)線表示。同時(shí)對cn1進(jìn)行放電回路在圖中用虛線表示。充、放電產(chǎn)生的電流都是從封裝的地引腳流出,從信號線流回,沒有經(jīng)過電源引腳;驅(qū)動(dòng)器1由低電平到高電平轉(zhuǎn)換時(shí),充、放電電流都是從信號線流出,從封裝的電源引腳流回,不經(jīng)過地引腳。
圖1 驅(qū)動(dòng)器1由高電平向低電平轉(zhuǎn)換的電流流向圖
不考慮圖1所示中的系統(tǒng)電源電感l(wèi)s,僅僅由封裝電感造成的電壓降為
由上式可知,這時(shí)芯片地和系統(tǒng)地并不是保持同樣的零電位,而是存在vgb的電壓波動(dòng),稱這種情況為地彈(ground bounce)。同樣,低電平到高電平轉(zhuǎn)換時(shí),由于感應(yīng)電壓的影響,芯片內(nèi)電源電壓將低于系統(tǒng)電源電壓,稱這種情況為電源反彈(power bounce)。
可以采取幾個(gè)常用的措施減小地彈:如降低驅(qū)動(dòng)器的邊沿速率,滿足時(shí)序要求的最慢邊沿速率將產(chǎn)生最小的噪聲;減小封裝回路電感,即減小自感或者增大互感;在芯片封裝內(nèi)部使用去耦旁路電容,在這種情況下驅(qū)動(dòng)器1從高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流路徑(如圖2所示),附加了額外的充電回路,封裝的電源引腳和地引腳共同分擔(dān)充電電流回路,從而減小電壓波動(dòng)。
圖2 芯片內(nèi)部加入去耦旁路電容后,驅(qū)動(dòng)器1從高電平到低電平轉(zhuǎn)換時(shí)的電流流向
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