1． 仿真模型

　　為了仿真rfid系統(tǒng)中采用不同長度的crc編碼校驗的抗干擾性能，本文建立了如圖所示的仿真模型。

　　圖 crc校驗能力仿真模型

　　該模型中，貝努利二進制信源發(fā)出一幀數(shù)據(jù)，考慮到rfid應(yīng)用的實際，讀寫器或電子標簽發(fā)出的數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)進入信道傳輸前加入4位、8位和16位crc校驗碼，然后通過二進制對稱信道傳輸。在接收端，經(jīng)過crc校驗檢測后，將校驗結(jié)果保存在matlab空間中。

　　2． 校驗能力仿真分析

　　對crc校驗能力的仿真采用由程序來控制仿真模型運行的方式，在程序中控制模型運行500次，每一次仿真模型運行后判斷是否有誤碼發(fā)生。如果有，再看crc是否檢測出錯誤發(fā)生，最后統(tǒng)計實際發(fā)生的錯誤的個數(shù)和crc檢測出錯誤的次數(shù)，分別用e和e1表示。這樣我們就可以統(tǒng)計crc校驗的檢錯率，檢錯率按下式計算：

　　仿真時，對信源發(fā)出的100位數(shù)據(jù)分別加上4位、8位和16位crc校驗，經(jīng)過仿真分析，得到的結(jié)果見表。

　　表 crc校驗能力仿真結(jié)果

　　從仿真結(jié)果可以看出，當所加crc校驗位數(shù)r和總的幀的位長度刀滿足關(guān)系n＝2^r-1時，可以做到100％錯誤檢測。例如當r=8時，根據(jù)關(guān)系式，它可以檢測127位數(shù)據(jù)，而仿真時檢測的數(shù)據(jù)為100位，小于127位，其檢錯率為100％；如果r小于所需滿足關(guān)系式的值，則crc校驗將出現(xiàn)較大的漏檢率：例如當r=4時，它可以校驗的n最大只能為15，如果將4位校驗位加到100位的數(shù)據(jù)后面，將出現(xiàn)12％的漏檢率。上述結(jié)果表明，當選擇的crc位數(shù)r能夠滿足實際的工作要求時，沒有必要選擇更長的crc校驗。因為在適宜的crc位數(shù)下，既可以保證沒有漏檢，又可以使數(shù)據(jù)傳輸效率盡可能地高。因此在實際的rfid應(yīng)用中，如果一幀數(shù)據(jù)的長度小于256位，可以選擇crc－8校驗；如果數(shù)據(jù)的長度大于256而小于64kbit，可以選擇crc-16校驗。在實際的rfid應(yīng)用中，基本上不會出現(xiàn)n大于64kbit的數(shù)據(jù)幀，所以一般情況下rfid應(yīng)用中沒有必要引入32位crc校驗。

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