從上面的調(diào)試接口示意圖可以知道，jtag測(cè)試信號(hào)由下面5個(gè)信號(hào)組成。

　　trst：測(cè)試復(fù)位輸入信號(hào)，測(cè)試接口初始化

　　tck：測(cè)試時(shí)鐘，在tck時(shí)鐘的同步作用下，通過(guò)tdi和tdo引腳串行移入／移出數(shù)據(jù)或指令；同時(shí)，也為tap（測(cè)試訪(fǎng)問(wèn)端口）控制器的狀態(tài)機(jī)提供時(shí)鐘。

　　tms：測(cè)試模式選擇信號(hào)，控制測(cè)試接口狀態(tài)機(jī)的操作。

　　tdi：測(cè)試數(shù)據(jù)輸入線(xiàn)，其串行輸入數(shù)據(jù)至邊界掃描寄存器或指令寄存器（由tap控制器的當(dāng)前狀態(tài)及己保存在指令寄存器中的指令來(lái)控制）。

　　tdo：測(cè)試數(shù)據(jù)輸出線(xiàn)，把從邊界掃描鏈采樣的數(shù)據(jù)傳輸至串行測(cè)試電路中的下一個(gè)芯片。

　　jtag可以對(duì)同一塊電路板上多塊芯片進(jìn)行測(cè)試。trst、tck和tms信號(hào)并行至各個(gè)芯片，而一塊芯片的tdo接至下一芯片的tdi。jtag的時(shí)序圖如圖所示。

　　圖 jtag時(shí)序圖

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