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參數(shù)掃描分析

發(fā)布時間:2011/9/23 9:36:41 訪問次數(shù):2876

    參數(shù)掃描分析就是檢測電路中某個元器件的參數(shù),在一定的取值范圍內(nèi)變化時對電路直流工作點、瞬態(tài)特性、交流頻率特性的影響。在實際電路設(shè)計中,可以針對電路中某一技術(shù)指標(biāo),如晶體管電流、管壓降、電壓放大倍數(shù)、上限頻率和下限頻率等,對電路的某些參數(shù)、性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)選。
    參數(shù)掃描分析的步驟如下:  M25P16
    (1)畫出電路圖,確定元器件及其參數(shù)、分析節(jié)點。
    (2)選擇“Analysis”菜單中的“Parameter Sweep”(參數(shù)掃描)項,打開相應(yīng)的對話框,根據(jù)如圖4.44所示對話框設(shè)置參數(shù)。
    對話框中各參數(shù)的意義如下:
    ①Component:選擇待掃描分析的元器件。
    ②Parameter:選擇掃描分析元器件的參數(shù)。對于電容器意指電容,對于電阻器意指電阻,對于電感器意指電感,對交流信號源意指其幅度、相位、頻率,對直流電壓源僅指其電壓大小。使用者必須根據(jù)被掃描元器件的參數(shù)來設(shè)置。
    ③Start Value:待掃描分析元器件的起始值。其值可以大于或者小于電路所標(biāo)注的參數(shù)值。默認(rèn)設(shè)盂為“電路元器件的標(biāo)注參數(shù)值”。
    ④End Value:待掃描分析元器件的終值。默認(rèn)設(shè)置為“電路元器件的標(biāo)注參數(shù)值”。
    ⑤Sweep type:掃描類型。包括十倍頻程(Decade)、線性(Linear)、二倍頻程(Octave)三種形式。默認(rèn)設(shè)置為“Decade”。
    ⑥Increment step size:掃描步長,僅在線性(Linear)掃描形式時允許進(jìn)行設(shè)置。默認(rèn)設(shè)置為1(取決于參數(shù)表示形式)。
    ⑦Output node:待分析節(jié)點,每次掃描分析僅允許選取一個節(jié)點。
    ⑧Sweep for DC Operating Point(直流工作點)/Transient Analysis(瞬態(tài))/AC FrequencyAnlysis(交流頻率):選擇掃描類型。默認(rèn)設(shè)置為“Transient Analysis”。
    (3)單擊“Simulate”(仿真)按鈕,開始掃描分析。按“Esc”鍵停止仿真運行。
    掃描分析結(jié)果以曲線形式表示,曲線數(shù)目與“掃描類型”設(shè)置有關(guān)。采用線性掃描方式時,曲線數(shù)目等于參數(shù)終值減去初始值除以掃描步長;采用十倍頻程掃描方式時,曲線數(shù)目等于初始值乘以10的倍數(shù)直至終值的倍數(shù)值;采用二倍頻程方式時,曲線數(shù)目等于初始值直至終值的倍數(shù)值。
    在進(jìn)行參數(shù)掃描分析時,數(shù)字器件被視為高阻接地.

 

 

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    參數(shù)掃描分析就是檢測電路中某個元器件的參數(shù),在一定的取值范圍內(nèi)變化時對電路直流工作點、瞬態(tài)特性、交流頻率特性的影響。在實際電路設(shè)計中,可以針對電路中某一技術(shù)指標(biāo),如晶體管電流、管壓降、電壓放大倍數(shù)、上限頻率和下限頻率等,對電路的某些參數(shù)、性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)選。
    參數(shù)掃描分析的步驟如下:  M25P16
    (1)畫出電路圖,確定元器件及其參數(shù)、分析節(jié)點。
    (2)選擇“Analysis”菜單中的“Parameter Sweep”(參數(shù)掃描)項,打開相應(yīng)的對話框,根據(jù)如圖4.44所示對話框設(shè)置參數(shù)。
    對話框中各參數(shù)的意義如下:
    ①Component:選擇待掃描分析的元器件。
    ②Parameter:選擇掃描分析元器件的參數(shù)。對于電容器意指電容,對于電阻器意指電阻,對于電感器意指電感,對交流信號源意指其幅度、相位、頻率,對直流電壓源僅指其電壓大小。使用者必須根據(jù)被掃描元器件的參數(shù)來設(shè)置。
    ③Start Value:待掃描分析元器件的起始值。其值可以大于或者小于電路所標(biāo)注的參數(shù)值。默認(rèn)設(shè)盂為“電路元器件的標(biāo)注參數(shù)值”。
    ④End Value:待掃描分析元器件的終值。默認(rèn)設(shè)置為“電路元器件的標(biāo)注參數(shù)值”。
    ⑤Sweep type:掃描類型。包括十倍頻程(Decade)、線性(Linear)、二倍頻程(Octave)三種形式。默認(rèn)設(shè)置為“Decade”。
    ⑥Increment step size:掃描步長,僅在線性(Linear)掃描形式時允許進(jìn)行設(shè)置。默認(rèn)設(shè)置為1(取決于參數(shù)表示形式)。
    ⑦Output node:待分析節(jié)點,每次掃描分析僅允許選取一個節(jié)點。
    ⑧Sweep for DC Operating Point(直流工作點)/Transient Analysis(瞬態(tài))/AC FrequencyAnlysis(交流頻率):選擇掃描類型。默認(rèn)設(shè)置為“Transient Analysis”。
    (3)單擊“Simulate”(仿真)按鈕,開始掃描分析。按“Esc”鍵停止仿真運行。
    掃描分析結(jié)果以曲線形式表示,曲線數(shù)目與“掃描類型”設(shè)置有關(guān)。采用線性掃描方式時,曲線數(shù)目等于參數(shù)終值減去初始值除以掃描步長;采用十倍頻程掃描方式時,曲線數(shù)目等于初始值乘以10的倍數(shù)直至終值的倍數(shù)值;采用二倍頻程方式時,曲線數(shù)目等于初始值直至終值的倍數(shù)值。
    在進(jìn)行參數(shù)掃描分析時,數(shù)字器件被視為高阻接地.

 

 

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