以微處理器(MPU)和微控制器（MCU，又稱單片機）為核心的電子系統(tǒng)，具有結(jié)構(gòu)簡單,修改方便，通用性強的突出優(yōu)點，適合于系統(tǒng)比較復(fù)雜，時序狀態(tài)比較多的應(yīng)用場合，其設(shè)計流程如下。  AB01859ACAA    
    (1)確定任務(wù)，完成總體設(shè)計
    確定系統(tǒng)功能指標，編寫設(shè)計任務(wù)書；確定系統(tǒng)實現(xiàn)的硬件與軟件子系統(tǒng)劃分，分別畫出硬件與軟件子系統(tǒng)的方框圖。
    (2)硬件、軟件設(shè)計與調(diào)試
    按模MPU/MCU、軟件設(shè)計，力求標準化、模塊化，可靠性高和抗干擾能力強，選擇合適類型的MPU/MCU，特別注意MPU/MCU的位寬是8位、16位或32位，以便選擇相應(yīng)的外圍(3)器件。當然，還要有開發(fā)系統(tǒng)和測試儀器，以便進行硬件和軟件的調(diào)試。
    (3)系統(tǒng)總調(diào)、性能測試
    將調(diào)試好的硬件和軟件裝配到系統(tǒng)樣機中，進行整機總體聯(lián)調(diào)。若有問題，則還需回到上一步重新檢查。在排除硬件和軟件故障后，可進行系統(tǒng)的性能指標測試。
    以PLD為核心的電子系統(tǒng)設(shè)計流程圖如圖I.l所示。由圖可見，其設(shè)計流程與以標準數(shù)字集成電路為核心的電子系統(tǒng)設(shè)計流程相似，下面僅就不同部分進行闡述。

(二)通過EDA軟件進行設(shè)計輸入
    PLD的設(shè)計軟件很多，通常這些軟件都可以用原理圖輸入、HDL語言描述（包括AHDL、Verilog HDL和VHDL）、EDIF網(wǎng)表輸入及波形輸入等幾種方式。
    (2)選擇器件
    對于PLD而言，器件選擇主要是考慮選用CPLD還是FPGA的問題。除此以外，對具體芯片的選擇，還應(yīng)有如下考慮。 ①芯片的速度。PLD產(chǎn)品通常有高速系列和低速系列，每個系列中還分成許多等級，應(yīng)先根據(jù)設(shè)計的要求確定合適的系列或等級。一般情況下，對于CPLD，可直接按照手冊上的參數(shù)選�。粚τ贔PGA，因延時不可預(yù)測，還應(yīng)留有一定的裕量。
    ②芯片的規(guī)模。應(yīng)先對要完成的電路或系統(tǒng)所需的設(shè)備量進行估計，如大致計算一下所用的觸發(fā)器的個數(shù)，并據(jù)此選擇合適的芯片型號。須注意：對CPLD內(nèi)部資源的使用通常不得超過80%，否則布線很難通過。一般情況下，對CPLD資源的利用率在50%左右為最佳；而對于FPGA．同樣因為對內(nèi)部安排更難掌握，所以還要放寬。
    ③1/O數(shù)與器件封裝。應(yīng)先對所需完成的電路或系統(tǒng)所需的引腳數(shù)進行統(tǒng)計，并據(jù)此選擇合適的芯片型號。復(fù)雜系統(tǒng)所需要的引腳數(shù)往往很多，而不同封裝的芯片，其引腳數(shù)是確定的，在選擇時仍然需要留出一定的裕量。因為，在設(shè)計過程中常常會因方案考慮不周或其他原因而需要增加系統(tǒng)的端口。在封裝形式上也要加以考慮，常用封裝形式有PLCC、TOFP、POFP、RQFP、PGA等，其中PLCC的引腳數(shù)較少，但可以使用插座。也就是說，在使用過程中，如果芯片損壞，可以方便地更換。引腳數(shù)大于100的必須使用其他封裝形式，這些封裝形式都屬于表面貼裝，一般需專門的設(shè)備才能焊在印制板上，如有損壞通常不易更換，所以在確定方案時應(yīng)慎重，必要時可將一個系統(tǒng)用數(shù)塊芯片實現(xiàn)。

    (3)設(shè)計編譯
    設(shè)計編譯主要是將設(shè)計輸入的原理圖、語言描述、網(wǎng)表等轉(zhuǎn)化為PLD開發(fā)軟件內(nèi)部的各種文件、適配、邏輯的綜合、器件的裝入、延時信息的提取等。
    (4) PLD時序和功能仿真
    功能仿真可以用來驗證設(shè)計項目的邏輯功能是否正確。時序仿真則將編譯產(chǎn)生的延時息力口入到設(shè)計中，進行布局布線后的仿真，這是與實際器件工作時情況基本相同的仿真。
    (5)器件編程
    器件編程是指將器件插在系統(tǒng)目標板上，由編程軟件通過下載電纜直接對器件編程的方法（器件編程又稱燒錄）。除了單獨編程，CPLD/FPGA器件都具有在系統(tǒng)編程的接口，如JTAG接口等。
    (6) PLD在線調(diào)試
    調(diào)試的目的是檢查編程的信息是否正確，如測試無誤，即可將PLD器件加入到系統(tǒng)總體調(diào)試中。  AB16C540-205