這里主要研究數(shù)字集成電路的檢測方法。判別數(shù)字集成電路的好壞，可以采用邏輯功能檢測法和置位功能檢測法，必要時還需采用參數(shù)測試法。ACT4065SH-T    
    1)邏輯功能檢測法
    器件邏輯功能的正確標準是：在規(guī)定的電源電壓范圍內(nèi)、輸出端不接任何負載的惰況下，電路的輸出與輸入之間的關(guān)系應(yīng)該完全符合真值表或邏輯功能表所具有的邏輯關(guān)系，且輸端電平應(yīng)符合規(guī)定值。根據(jù)測試條件的不同，邏輯功能檢測法可分為如下五種方法。
    (1)數(shù)字集成電路測試儀檢測法
    用數(shù)字集成電路測試儀檢測數(shù)字集成電路器件的邏輯功能是最為簡便迅速的方法，尤其適用于數(shù)量多、種類多的場合。
    (2)電子技術(shù)實驗儀檢測法
    具體操作步驟如下所述。
    ①先給器件加上規(guī)定的電源電壓。
    ②將“電平開關(guān)”接至有關(guān)輸入端以提供邏輯電平。
    ③將輸出端接至“電平顯示器”，使輸出端電平能顯示出來。
    ④若有時鐘脈沖．則將“單次脈沖”輸出端接至器件的時鐘輸入端。
    ⑤按器件真值表的輸入電平撥動“電平開關(guān)”，從“顯示器”顯示的邏輯電平觀察是否符合真值表的規(guī)定。
    (3)邏輯電平筆測試法
    具體操作步驟如下所述。
    ①接好被測器件的電源電壓。
    ②將邏輯電子筆的“類型選擇開關(guān)”撥到被測器件相應(yīng)的類型(TTL或CMOS)。接好邏輯筆電源，注意接地良好。
    ③在器件的輸入端按真值表接以相應(yīng)的電平，觀察邏輯筆上的顯示是否符合真值表的規(guī)定。
    (4)萬用表法
    具體操作步驟如下所述。
    在沒有以上幾種儀器的情況下，用萬用表也可以測試器件的邏輯功能。
    ①把器件插入簡易測誠板的插座里，并接好電源電壓。

　　    ②按真值表規(guī)定的輸入電平，將各輸入端分別按地（為邏輯0）或接電源（為邏輯1），分別測量輸出電壓值，判斷器件的邏輯功能是否正常。
    ③對于時鐘輸入端可用“先接地，瞬間接電源”的方法來實現(xiàn)。
    (5)示波器法
    具體操作．步驟如下所述。
    ①接好被測器件的電源電壓；
    ②在輸入端分別輸入合適的脈沖信號；
    ③用雙蹤示波器的YA、Y。兩通道同時觀察輸入、輸出波形，并根據(jù)波形分析邏輯關(guān)系是否正確就可以判斷集成電路的好壞。必要時還可測出被測信號的幅度、脈寬、占空比、前后沿時間、最高觸發(fā)頻率和抗干擾能力等脈沖參數(shù)。
    2)置位檢測法
    對各種觸發(fā)器和規(guī)模較大的數(shù)字集成電路可采用置位法進行檢測。
    這些集成電路大多數(shù)具有置位功能，如D觸發(fā)器、JK觸發(fā)器的置o和置1功能；計數(shù)器的復(fù)位（清零）功能；譯碼驅(qū)動器的點亮測試功能、無效零消隱功能；編碼器的選通輸入功能等。若這些置位功能正常，則集成電路是正常的。
    置位檢測時，需向被測集成電路提供合適的電源電壓，按要求向集成電路置位端提供合適的o、1電平，用LED顯示器或邏輯筆檢測其能否正常置位，從而進行正確判斷。使用置位法時要注意：集成電路輸入端虛按真值表正確處置；檢測CMOS電路時，空余輸入端要特別處理好。
    在應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)具體使用場合的需要來選擇測試方法和測試項目。在數(shù)字邏輯電路實驗中，可行的方法是用簡單的邏輯功能檢測法確定器件的邏輯功能是否正常。但有些情況還要對器件的參數(shù)進行測試，對于某些器件的使用場合有特殊要求的，還需進行某些專項測試。