消除影響ADC精度的因素
發(fā)布時(shí)間:2012/2/21 20:47:53 訪問次數(shù):1568
1.ADC模塊自身的誤差DP8392CN
(1)積分線性誤差(ILE)和微分線性誤差(DLE)依賴于ADC模塊的設(shè)計(jì),校準(zhǔn)它們是閑難的。進(jìn)行多次轉(zhuǎn)換再做平均可以減小它們的影響。
(2)偏移和增益誤差可以簡單地使用ADC模塊的自校準(zhǔn)功能補(bǔ)償。
2.電源噪聲
(1)注意電源噪聲,尤其是開關(guān)電源(SMPS)的高頻噪聲,線性穩(wěn)壓器具有較好的輸出。強(qiáng)烈建議在整流輸出端連接濾波電容。
(2)如果使用開關(guān)型電源,建議使用一個(gè)線性穩(wěn)壓器為模擬部分供電。
(3)建議在電源線和地線之間連接具有良好高頻特性的電容,即在靠近電源一端應(yīng)放置一個(gè)0.1斗F和一個(gè)l~lOvF的電容。
(4)每一對VDD和VSS引腳都需要使用單獨(dú)的去耦電容。
(5)VDDA引腳必須連接到2個(gè)外部的去耦電容器(lOnF瓷介電容+1y,F的鉭電容或瓷介電容)。
(6)對于100引腳和144引腳封裝的產(chǎn)品,可以在VREF+上連接一個(gè)外部的ADC的參考輸入電壓,從而改善對輸入低電壓的精度。
(7) lOnF徑介電容+1}Je,F的鉭電容或瓷介電容應(yīng)在物理上盡可能地靠近STM32芯片引腳。
電源和參考電壓去耦電路如圖2. 44所示。
電源輸出不穩(wěn)
(1)電源輸出不穩(wěn)是指隨負(fù)載變化。
(2) ADC模塊使用VREF+或VDDA作為模擬參考,數(shù)字?jǐn)?shù)值的輸出是這個(gè)參考電壓與模擬輸入信號(hào)的比值,VREF+必須在各種負(fù)載情況下保持穩(wěn)定。
(3)可以使用如LM236作為VR。,+的參考電壓,LM236是一個(gè)2.5V的電壓參考二極管。
1.ADC模塊自身的誤差DP8392CN
(1)積分線性誤差(ILE)和微分線性誤差(DLE)依賴于ADC模塊的設(shè)計(jì),校準(zhǔn)它們是閑難的。進(jìn)行多次轉(zhuǎn)換再做平均可以減小它們的影響。
(2)偏移和增益誤差可以簡單地使用ADC模塊的自校準(zhǔn)功能補(bǔ)償。
2.電源噪聲
(1)注意電源噪聲,尤其是開關(guān)電源(SMPS)的高頻噪聲,線性穩(wěn)壓器具有較好的輸出。強(qiáng)烈建議在整流輸出端連接濾波電容。
(2)如果使用開關(guān)型電源,建議使用一個(gè)線性穩(wěn)壓器為模擬部分供電。
(3)建議在電源線和地線之間連接具有良好高頻特性的電容,即在靠近電源一端應(yīng)放置一個(gè)0.1斗F和一個(gè)l~lOvF的電容。
(4)每一對VDD和VSS引腳都需要使用單獨(dú)的去耦電容。
(5)VDDA引腳必須連接到2個(gè)外部的去耦電容器(lOnF瓷介電容+1y,F的鉭電容或瓷介電容)。
(6)對于100引腳和144引腳封裝的產(chǎn)品,可以在VREF+上連接一個(gè)外部的ADC的參考輸入電壓,從而改善對輸入低電壓的精度。
(7) lOnF徑介電容+1}Je,F的鉭電容或瓷介電容應(yīng)在物理上盡可能地靠近STM32芯片引腳。
電源和參考電壓去耦電路如圖2. 44所示。
電源輸出不穩(wěn)
(1)電源輸出不穩(wěn)是指隨負(fù)載變化。
(2) ADC模塊使用VREF+或VDDA作為模擬參考,數(shù)字?jǐn)?shù)值的輸出是這個(gè)參考電壓與模擬輸入信號(hào)的比值,VREF+必須在各種負(fù)載情況下保持穩(wěn)定。
(3)可以使用如LM236作為VR。,+的參考電壓,LM236是一個(gè)2.5V的電壓參考二極管。
上一篇:連接元件到時(shí)鐘引腳端
上一篇:模擬輸入信號(hào)的噪聲
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