啟動(dòng)時(shí)間
發(fā)布時(shí)間:2012/2/22 19:57:10 訪問(wèn)次數(shù):1150
啟動(dòng)時(shí)間是指振蕩器啟動(dòng)并達(dá)到穩(wěn)定所需的時(shí)間。這個(gè)時(shí)間受外部CL1和CL2電容影響，同時(shí)它隨著晶振頻率的增加而減少。不同種類的晶振對(duì)啟動(dòng)時(shí)間影響也很大，石英晶振的啟動(dòng)時(shí)間比陶瓷晶振的啟動(dòng)時(shí)間長(zhǎng)得多。起振失敗通常GainMARGIN。有關(guān)，過(guò)大或過(guò)小的CL，和CL2，以及過(guò)大的ESR值均可引起GainMARGIN不能滿足起振條件。NB12K00822JBA
頻率為MHz級(jí)的晶振的啟動(dòng)時(shí)間是毫秒級(jí)的。而32kHz的晶振的啟動(dòng)時(shí)間一般為l～5s。
晶振的牽引度（Pullability）
晶振的牽引度（也叫可調(diào)度）是指工作在正常并聯(lián)諧振區(qū)的晶振頻率的變化率。這也用于衡量隨負(fù)載電容變化而導(dǎo)致的頻率變化，負(fù)載電容的減少會(huì)導(dǎo)致頻率的增加，反之負(fù)載電容的增加會(huì)導(dǎo)致頻率的減小。
頻率為MHz級(jí)的晶振的啟動(dòng)時(shí)間是毫秒級(jí)的。而32kHz的晶振的啟動(dòng)時(shí)間一般為l～5s。
晶振的牽引度（Pullability）
晶振的牽引度（也叫可調(diào)度）是指工作在正常并聯(lián)諧振區(qū)的晶振頻率的變化率。這也用于衡量隨負(fù)載電容變化而導(dǎo)致的頻率變化，負(fù)載電容的減少會(huì)導(dǎo)致頻率的增加，反之負(fù)載電容的增加會(huì)導(dǎo)致頻率的減小。
啟動(dòng)時(shí)間是指振蕩器啟動(dòng)并達(dá)到穩(wěn)定所需的時(shí)間。這個(gè)時(shí)間受外部CL1和CL2電容影響，同時(shí)它隨著晶振頻率的增加而減少。不同種類的晶振對(duì)啟動(dòng)時(shí)間影響也很大，石英晶振的啟動(dòng)時(shí)間比陶瓷晶振的啟動(dòng)時(shí)間長(zhǎng)得多。起振失敗通常GainMARGIN。有關(guān)，過(guò)大或過(guò)小的CL，和CL2，以及過(guò)大的ESR值均可引起GainMARGIN不能滿足起振條件。NB12K00822JBA
頻率為MHz級(jí)的晶振的啟動(dòng)時(shí)間是毫秒級(jí)的。而32kHz的晶振的啟動(dòng)時(shí)間一般為l～5s。
晶振的牽引度（Pullability）
晶振的牽引度（也叫可調(diào)度）是指工作在正常并聯(lián)諧振區(qū)的晶振頻率的變化率。這也用于衡量隨負(fù)載電容變化而導(dǎo)致的頻率變化，負(fù)載電容的減少會(huì)導(dǎo)致頻率的增加，反之負(fù)載電容的增加會(huì)導(dǎo)致頻率的減小。
頻率為MHz級(jí)的晶振的啟動(dòng)時(shí)間是毫秒級(jí)的。而32kHz的晶振的啟動(dòng)時(shí)間一般為l～5s。
晶振的牽引度（Pullability）
晶振的牽引度（也叫可調(diào)度）是指工作在正常并聯(lián)諧振區(qū)的晶振頻率的變化率。這也用于衡量隨負(fù)載電容變化而導(dǎo)致的頻率變化，負(fù)載電容的減少會(huì)導(dǎo)致頻率的增加，反之負(fù)載電容的增加會(huì)導(dǎo)致頻率的減小。
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