輸入阻抗
發(fā)布時(shí)間:2012/3/4 15:55:44 訪問次數(shù):1225
理想的比較器的輸入阻抗為無窮大,因此,理論上對(duì)輸入信號(hào)不產(chǎn)生影響。而實(shí)際上比較器的輸入阻抗不可能做到無窮大,輸入端有電流經(jīng)過信號(hào)源內(nèi)阻并流入比較器內(nèi)部,從而產(chǎn)生額外的壓差。偏置電流(IBIAS)定義為兩個(gè)比較器輸入電流的中值,用于衡量輸入阻抗的影響。例如,MAX917、MAX9117系列比較器在整個(gè)工作溫度范圍內(nèi)的最大偏置電流僅為2nA,室溫下(TA=+25℃)偏置電流低于InA。 A777
輸入電壓
隨著低電壓應(yīng)用的普及,為進(jìn)一步優(yōu)化比較器的工作電壓范圍,一些公司(如MAXIM公司)利用NPN管與PNP管相并聯(lián)的結(jié)構(gòu)作為比較器的輸入級(jí),從而使比較器的輸入電壓得以擴(kuò)展,可以比電源電壓高出250mV,達(dá)到了所謂的超電源擺幅標(biāo)準(zhǔn),這種比較器的輸入端允許有較大的共模電壓。
比較器輸出
由于比較器僅有兩個(gè)不同的輸出狀態(tài),零電平或電源電壓,具有滿電源擺幅特性的比較器輸出級(jí)為射極跟隨器,達(dá)使得其輸出信號(hào)與電源擺幅之間僅有極小的壓差。該壓差取決于比較器內(nèi)部晶體管飽和狀態(tài)下的集電極與發(fā)射極之間的電壓。CMOS滿擺幅比較器的輸出電壓取決于飽和狀態(tài)下的MOSFET。與雙極型晶體管結(jié)構(gòu)相比,在輕載情況下電壓更接近電源電壓。
輸出延遲時(shí)間A777
輸出延遲時(shí)間是選擇比較器的關(guān)鍵參數(shù),延遲時(shí)間包括信號(hào)通過元器件產(chǎn)生的傳輸延時(shí)和信號(hào)的上升時(shí)間與下降時(shí)間。對(duì)于高速比較器,如MAX961、MAX9010~MAX9013,其延遲時(shí)間的典型值分別達(dá)到4. Sns和Sns,上升時(shí)間為2.3ns和3ns(注意:傳輸延時(shí)的測(cè)量包含了上升時(shí)間)。設(shè)計(jì)時(shí)需注意不同因素對(duì)延遲時(shí)間的影響,其中包括溫度、容性負(fù)載、輸入過驅(qū)動(dòng)等因素。對(duì)于反相輸入,傳輸延時(shí)用TPD-表示;對(duì)于同相輸入,傳輸延時(shí)用TPD+表示。tPD+與TPD-之差稱為偏差。電源電壓對(duì)傳輸延時(shí)也有較大影響。
輸入電壓
隨著低電壓應(yīng)用的普及,為進(jìn)一步優(yōu)化比較器的工作電壓范圍,一些公司(如MAXIM公司)利用NPN管與PNP管相并聯(lián)的結(jié)構(gòu)作為比較器的輸入級(jí),從而使比較器的輸入電壓得以擴(kuò)展,可以比電源電壓高出250mV,達(dá)到了所謂的超電源擺幅標(biāo)準(zhǔn),這種比較器的輸入端允許有較大的共模電壓。
比較器輸出
由于比較器僅有兩個(gè)不同的輸出狀態(tài),零電平或電源電壓,具有滿電源擺幅特性的比較器輸出級(jí)為射極跟隨器,達(dá)使得其輸出信號(hào)與電源擺幅之間僅有極小的壓差。該壓差取決于比較器內(nèi)部晶體管飽和狀態(tài)下的集電極與發(fā)射極之間的電壓。CMOS滿擺幅比較器的輸出電壓取決于飽和狀態(tài)下的MOSFET。與雙極型晶體管結(jié)構(gòu)相比,在輕載情況下電壓更接近電源電壓。
輸出延遲時(shí)間A777
輸出延遲時(shí)間是選擇比較器的關(guān)鍵參數(shù),延遲時(shí)間包括信號(hào)通過元器件產(chǎn)生的傳輸延時(shí)和信號(hào)的上升時(shí)間與下降時(shí)間。對(duì)于高速比較器,如MAX961、MAX9010~MAX9013,其延遲時(shí)間的典型值分別達(dá)到4. Sns和Sns,上升時(shí)間為2.3ns和3ns(注意:傳輸延時(shí)的測(cè)量包含了上升時(shí)間)。設(shè)計(jì)時(shí)需注意不同因素對(duì)延遲時(shí)間的影響,其中包括溫度、容性負(fù)載、輸入過驅(qū)動(dòng)等因素。對(duì)于反相輸入,傳輸延時(shí)用TPD-表示;對(duì)于同相輸入,傳輸延時(shí)用TPD+表示。tPD+與TPD-之差稱為偏差。電源電壓對(duì)傳輸延時(shí)也有較大影響。
理想的比較器的輸入阻抗為無窮大,因此,理論上對(duì)輸入信號(hào)不產(chǎn)生影響。而實(shí)際上比較器的輸入阻抗不可能做到無窮大,輸入端有電流經(jīng)過信號(hào)源內(nèi)阻并流入比較器內(nèi)部,從而產(chǎn)生額外的壓差。偏置電流(IBIAS)定義為兩個(gè)比較器輸入電流的中值,用于衡量輸入阻抗的影響。例如,MAX917、MAX9117系列比較器在整個(gè)工作溫度范圍內(nèi)的最大偏置電流僅為2nA,室溫下(TA=+25℃)偏置電流低于InA。 A777
輸入電壓
隨著低電壓應(yīng)用的普及,為進(jìn)一步優(yōu)化比較器的工作電壓范圍,一些公司(如MAXIM公司)利用NPN管與PNP管相并聯(lián)的結(jié)構(gòu)作為比較器的輸入級(jí),從而使比較器的輸入電壓得以擴(kuò)展,可以比電源電壓高出250mV,達(dá)到了所謂的超電源擺幅標(biāo)準(zhǔn),這種比較器的輸入端允許有較大的共模電壓。
比較器輸出
由于比較器僅有兩個(gè)不同的輸出狀態(tài),零電平或電源電壓,具有滿電源擺幅特性的比較器輸出級(jí)為射極跟隨器,達(dá)使得其輸出信號(hào)與電源擺幅之間僅有極小的壓差。該壓差取決于比較器內(nèi)部晶體管飽和狀態(tài)下的集電極與發(fā)射極之間的電壓。CMOS滿擺幅比較器的輸出電壓取決于飽和狀態(tài)下的MOSFET。與雙極型晶體管結(jié)構(gòu)相比,在輕載情況下電壓更接近電源電壓。
輸出延遲時(shí)間A777
輸出延遲時(shí)間是選擇比較器的關(guān)鍵參數(shù),延遲時(shí)間包括信號(hào)通過元器件產(chǎn)生的傳輸延時(shí)和信號(hào)的上升時(shí)間與下降時(shí)間。對(duì)于高速比較器,如MAX961、MAX9010~MAX9013,其延遲時(shí)間的典型值分別達(dá)到4. Sns和Sns,上升時(shí)間為2.3ns和3ns(注意:傳輸延時(shí)的測(cè)量包含了上升時(shí)間)。設(shè)計(jì)時(shí)需注意不同因素對(duì)延遲時(shí)間的影響,其中包括溫度、容性負(fù)載、輸入過驅(qū)動(dòng)等因素。對(duì)于反相輸入,傳輸延時(shí)用TPD-表示;對(duì)于同相輸入,傳輸延時(shí)用TPD+表示。tPD+與TPD-之差稱為偏差。電源電壓對(duì)傳輸延時(shí)也有較大影響。
輸入電壓
隨著低電壓應(yīng)用的普及,為進(jìn)一步優(yōu)化比較器的工作電壓范圍,一些公司(如MAXIM公司)利用NPN管與PNP管相并聯(lián)的結(jié)構(gòu)作為比較器的輸入級(jí),從而使比較器的輸入電壓得以擴(kuò)展,可以比電源電壓高出250mV,達(dá)到了所謂的超電源擺幅標(biāo)準(zhǔn),這種比較器的輸入端允許有較大的共模電壓。
比較器輸出
由于比較器僅有兩個(gè)不同的輸出狀態(tài),零電平或電源電壓,具有滿電源擺幅特性的比較器輸出級(jí)為射極跟隨器,達(dá)使得其輸出信號(hào)與電源擺幅之間僅有極小的壓差。該壓差取決于比較器內(nèi)部晶體管飽和狀態(tài)下的集電極與發(fā)射極之間的電壓。CMOS滿擺幅比較器的輸出電壓取決于飽和狀態(tài)下的MOSFET。與雙極型晶體管結(jié)構(gòu)相比,在輕載情況下電壓更接近電源電壓。
輸出延遲時(shí)間A777
輸出延遲時(shí)間是選擇比較器的關(guān)鍵參數(shù),延遲時(shí)間包括信號(hào)通過元器件產(chǎn)生的傳輸延時(shí)和信號(hào)的上升時(shí)間與下降時(shí)間。對(duì)于高速比較器,如MAX961、MAX9010~MAX9013,其延遲時(shí)間的典型值分別達(dá)到4. Sns和Sns,上升時(shí)間為2.3ns和3ns(注意:傳輸延時(shí)的測(cè)量包含了上升時(shí)間)。設(shè)計(jì)時(shí)需注意不同因素對(duì)延遲時(shí)間的影響,其中包括溫度、容性負(fù)載、輸入過驅(qū)動(dòng)等因素。對(duì)于反相輸入,傳輸延時(shí)用TPD-表示;對(duì)于同相輸入,傳輸延時(shí)用TPD+表示。tPD+與TPD-之差稱為偏差。電源電壓對(duì)傳輸延時(shí)也有較大影響。
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