三防設(shè)計技術(shù)
發(fā)布時間:2012/4/20 19:10:17 訪問次數(shù):712
三防設(shè)計是指電子元器件M101AC的防潮濕、防鹽霧、防霉菌性能的設(shè)計。
潮濕、鹽霧和霉菌會降低組成電子元器件的材料絕緣強(qiáng)度，引起漏電，從而導(dǎo)致失效。由潮濕、鹽霧和霉菌引起的電子元器件失效模式主要有兩大類：
①使電子元器件發(fā)生化學(xué)變化，如腐蝕、銹蝕而使其結(jié)構(gòu)損壞。
②引起物理變化，使電子元器件電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差。
因此，電子元器件三防設(shè)計主要是采用耐環(huán)境性結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝防護(hù)設(shè)計和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計的方法，來達(dá)到提高表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能，使電子元器件具有防潮、防鹽霧和防霉的能力。
潮濕、鹽霧和霉菌會降低組成電子元器件的材料絕緣強(qiáng)度，引起漏電，從而導(dǎo)致失效。由潮濕、鹽霧和霉菌引起的電子元器件失效模式主要有兩大類：
①使電子元器件發(fā)生化學(xué)變化，如腐蝕、銹蝕而使其結(jié)構(gòu)損壞。
②引起物理變化，使電子元器件電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差。
因此，電子元器件三防設(shè)計主要是采用耐環(huán)境性結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝防護(hù)設(shè)計和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計的方法，來達(dá)到提高表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能，使電子元器件具有防潮、防鹽霧和防霉的能力。
三防設(shè)計是指電子元器件M101AC的防潮濕、防鹽霧、防霉菌性能的設(shè)計。
潮濕、鹽霧和霉菌會降低組成電子元器件的材料絕緣強(qiáng)度，引起漏電，從而導(dǎo)致失效。由潮濕、鹽霧和霉菌引起的電子元器件失效模式主要有兩大類：
①使電子元器件發(fā)生化學(xué)變化，如腐蝕、銹蝕而使其結(jié)構(gòu)損壞。
②引起物理變化，使電子元器件電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差。
因此，電子元器件三防設(shè)計主要是采用耐環(huán)境性結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝防護(hù)設(shè)計和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計的方法，來達(dá)到提高表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能，使電子元器件具有防潮、防鹽霧和防霉的能力。
潮濕、鹽霧和霉菌會降低組成電子元器件的材料絕緣強(qiáng)度，引起漏電，從而導(dǎo)致失效。由潮濕、鹽霧和霉菌引起的電子元器件失效模式主要有兩大類：
①使電子元器件發(fā)生化學(xué)變化，如腐蝕、銹蝕而使其結(jié)構(gòu)損壞。
②引起物理變化，使電子元器件電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差。
因此，電子元器件三防設(shè)計主要是采用耐環(huán)境性結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝防護(hù)設(shè)計和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計的方法，來達(dá)到提高表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能，使電子元器件具有防潮、防鹽霧和防霉的能力。
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