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3D錫膏測厚儀(H800)

發(fā)布時間:2012/8/12 12:06:41 訪問次數(shù):748

    3D錫膏測厚儀主要MEGA16L-8PU用于IC封裝、空PCB變形測量;鋼網(wǎng)的通孔尺寸和形狀測量;PCB焊盤、絲印圖案的厚度和形狀測量;提供刮刀壓力預測功能、印刷制程優(yōu)化功能;芯片邦定、零件共平面度、BGA/C SP尺寸和形裝測量;
    H800-3D錫膏測厚儀如圖8-17所示。

           
    1) H800-3D錫膏測厚儀的特點
    300mmx300mm大測量區(qū),充分滿足基板要求;可視操作更簡便快速,屬于真正可編程測試系統(tǒng);通過PCB標志點自動尋找檢查位置并校正偏移;一次按鍵,多目標測量;自動補償修正基板翹曲變形,獲取準確錫膏高度;裝載了強大的SPC數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析軟件;可預警,可自動生成CP、CPK、X-BAR,R-CHART,SIGMA柱形圖、直方圖、趨勢圖、管制圖等。
    掃描影像可進行截面切片測量與分析,彩色影像同樣可用于2D;精密可靠的硬件系統(tǒng),提供可信測試精度與可靠使用壽命;超越錫膏厚度測試的多功能測試;測量結果數(shù)據(jù)將列表自動保存,生成SPC報表,方便查看。
    2) H800-3D錫膏測厚儀的主要技術參數(shù)
    H800-3D錫膏測厚儀的主要技術參數(shù)如下。
   (1)最高測量精度:0.5 p,m(Z方向)。
   (2)重復精度:≤1.2Um。
   (3)放大倍率:50X。
   (4)光學檢測系統(tǒng):黑白200萬像素。
   (5)激光發(fā)生系統(tǒng):紅光激光模組。
   (6)自動平臺系統(tǒng):全自動。
   (7)測量原理:非接觸式激光束。
   (
8) X/Y可移動掃描范圍:300mm (X方向)x300mm<】,方向)。
   (9)最大可測量高度:Smm。
   (10)最大測量速度:60Profiles/min。
   (11)計算機系統(tǒng):Windows XP。
   (12)軟件語言版本:中文簡體、中文繁體、英文。
   (13)電源:單相AC 220V,60/50Hz。
   (14)質量:75kg。
   (15)設備外形尺寸:668mmx775mmx374mm。

    3D錫膏測厚儀主要MEGA16L-8PU用于IC封裝、空PCB變形測量;鋼網(wǎng)的通孔尺寸和形狀測量;PCB焊盤、絲印圖案的厚度和形狀測量;提供刮刀壓力預測功能、印刷制程優(yōu)化功能;芯片邦定、零件共平面度、BGA/C SP尺寸和形裝測量;
    H800-3D錫膏測厚儀如圖8-17所示。

           
    1) H800-3D錫膏測厚儀的特點
    300mmx300mm大測量區(qū),充分滿足基板要求;可視操作更簡便快速,屬于真正可編程測試系統(tǒng);通過PCB標志點自動尋找檢查位置并校正偏移;一次按鍵,多目標測量;自動補償修正基板翹曲變形,獲取準確錫膏高度;裝載了強大的SPC數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析軟件;可預警,可自動生成CP、CPK、X-BAR,R-CHART,SIGMA柱形圖、直方圖、趨勢圖、管制圖等。
    掃描影像可進行截面切片測量與分析,彩色影像同樣可用于2D;精密可靠的硬件系統(tǒng),提供可信測試精度與可靠使用壽命;超越錫膏厚度測試的多功能測試;測量結果數(shù)據(jù)將列表自動保存,生成SPC報表,方便查看。
    2) H800-3D錫膏測厚儀的主要技術參數(shù)
    H800-3D錫膏測厚儀的主要技術參數(shù)如下。
   (1)最高測量精度:0.5 p,m(Z方向)。
   (2)重復精度:≤1.2Um。
   (3)放大倍率:50X。
   (4)光學檢測系統(tǒng):黑白200萬像素。
   (5)激光發(fā)生系統(tǒng):紅光激光模組。
   (6)自動平臺系統(tǒng):全自動。
   (7)測量原理:非接觸式激光束。
   (
8) X/Y可移動掃描范圍:300mm (X方向)x300mm<】,方向)。
   (9)最大可測量高度:Smm。
   (10)最大測量速度:60Profiles/min。
   (11)計算機系統(tǒng):Windows XP。
   (12)軟件語言版本:中文簡體、中文繁體、英文。
   (13)電源:單相AC 220V,60/50Hz。
   (14)質量:75kg。
   (15)設備外形尺寸:668mmx775mmx374mm。

相關技術資料
8-123D錫膏測厚儀(H800)

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