檢測(cè)光敏電阻時(shí)，將萬(wàn)用表設(shè)置IRF7306成較大歐姆擋位，指針式萬(wàn)用表可使用R xlkfl或R×lOkfl擋，數(shù)字式萬(wàn)用表使用R×20kfl,擋。測(cè)量時(shí)需分兩步進(jìn)行，第一步測(cè)量有光照時(shí)的電阻值，第二步測(cè)量無(wú)光照時(shí)的電阻值。
    將萬(wàn)用表的兩表筆分別與光敏電阻兩引腳相接，測(cè)量有光照時(shí)的電阻值，如圖1.14 (a)所示；再用一不透光黑紙（或手指遮蓋）將光敏電阻遮住，測(cè)量無(wú)光照時(shí)的電阻值，如圖1. 14  (b)所示。兩者相比較有較大差別，通常光敏電阻有光照時(shí)電阻值為幾千歐（此值越小，說(shuō)明光敏電阻的性能越好）；無(wú)光照時(shí)電阻值大于1500kfl，甚至無(wú)窮大（此值越大，說(shuō)明光敏電阻的性能越好）。光敏電阻測(cè)量示意圖如圖1.14所示。

               
    如果光敏電阻在有光照時(shí)所測(cè)阻值很大甚至無(wú)窮大，則說(shuō)明被測(cè)光敏電阻內(nèi)部開路損壞，如果光敏電阻在無(wú)光照時(shí)所測(cè)阻值很小或?yàn)榱�，則說(shuō)明被測(cè)光敏電阻已燒穿損壞。