檢測(cè)開關(guān)
發(fā)布時(shí)間:2013/3/11 20:16:01 訪問次數(shù):666
開關(guān)可用萬(wàn)用表電阻擋檢測(cè)其DAC0832LCNN觸點(diǎn)通斷和絕緣性能。
1.檢測(cè)觸點(diǎn)通斷
檢測(cè)時(shí),萬(wàn)用表置于“R xlk”擋,測(cè)量開關(guān)兩個(gè)觸點(diǎn)間的通斷,如圖744所示。開關(guān)關(guān)斷時(shí)阻值應(yīng)為無(wú)窮大,開關(guān)打開時(shí)阻值應(yīng)為“0”。否則說(shuō)明該開關(guān)已損壞。對(duì)于多極或多位開關(guān),應(yīng)分別檢測(cè)各對(duì)觸點(diǎn)間的通斷情況。
2.檢測(cè)絕緣性能
對(duì)于多極開關(guān),用萬(wàn)用表“R xlk”或“RxlOk”擋,測(cè)量不同極的任意兩個(gè)觸點(diǎn)間的絕緣電阻,均應(yīng)為無(wú)窮大,如圖745所示。如果是金屬外殼,的開關(guān),還應(yīng)測(cè)量每個(gè)觸點(diǎn)與外殼之間的絕緣電阻,也均應(yīng)為無(wú)窮大。否則說(shuō)明該開關(guān)絕緣性能太差,不能使用。
開關(guān)可用萬(wàn)用表電阻擋檢測(cè)其DAC0832LCNN觸點(diǎn)通斷和絕緣性能。
1.檢測(cè)觸點(diǎn)通斷
檢測(cè)時(shí),萬(wàn)用表置于“R xlk”擋,測(cè)量開關(guān)兩個(gè)觸點(diǎn)間的通斷,如圖744所示。開關(guān)關(guān)斷時(shí)阻值應(yīng)為無(wú)窮大,開關(guān)打開時(shí)阻值應(yīng)為“0”。否則說(shuō)明該開關(guān)已損壞。對(duì)于多極或多位開關(guān),應(yīng)分別檢測(cè)各對(duì)觸點(diǎn)間的通斷情況。
2.檢測(cè)絕緣性能
對(duì)于多極開關(guān),用萬(wàn)用表“R xlk”或“RxlOk”擋,測(cè)量不同極的任意兩個(gè)觸點(diǎn)間的絕緣電阻,均應(yīng)為無(wú)窮大,如圖745所示。如果是金屬外殼,的開關(guān),還應(yīng)測(cè)量每個(gè)觸點(diǎn)與外殼之間的絕緣電阻,也均應(yīng)為無(wú)窮大。否則說(shuō)明該開關(guān)絕緣性能太差,不能使用。
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