1．用萬用表直接檢測
    使用萬用表的R x100擋，分別檢測三BL3207端集成穩(wěn)壓器的輸入端與輸出端的正、反向電阻值。正常時(shí)，阻值相差在數(shù)千歐以上；若阻值相差不大或近似于零，則表明被測的三端集成穩(wěn)壓器已損壞。
    2．用萬用表配合絕緣電阻表檢測
    以AN7805三端穩(wěn)壓器為例，將被測的三端穩(wěn)壓器7805輸入端接在絕緣電阻表E端正極，7805輸出端接在萬用表直流電壓擋+10V上。絕緣電阻表L端分別與7805外殼、萬用表負(fù)極相接，進(jìn)行檢測。檢測正常時(shí)電壓為+5V，低于+5V時(shí)為失效，高于+5V時(shí)為擊穿，無電壓輸出時(shí)為三端7805開路損壞。
    微處理器集成電路如何檢測？
    微處理器集成電路的關(guān)鍵測試點(diǎn)主要是電源( VCC/VDD)端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他線路輸入、輸出端，可在路進(jìn)行檢測。其方法是：將萬用表置于電阻擋（如圖3-76所示）或電壓擋（如圖3-77所示），紅、黑表筆分別接集成電路的接地腳，然后用另一表筆檢測上述關(guān)鍵點(diǎn)的對地電阻值和電壓值，并與正常值對照，即可判斷該集成電路是否正常。
    圖3-76微處理器關(guān)鍵點(diǎn)電阻檢測