小區(qū)相關(guān)性統(tǒng)計
發(fā)布時間:2014/10/25 20:38:18 訪問次數(shù):417
小區(qū)相關(guān)性統(tǒng)計是基于BAR測量,通過對下行測量報告進行處理得到, HFCT-5208AEM最終獲得小區(qū)間相關(guān)性矩陣ICDM (Inter Cell Dependency Matrix),ICDM是小區(qū)之間相互影響情況的描述,它是頻率優(yōu)化時所使用的重要參考依據(jù)。
圖7-41中Element (C,B)表示小區(qū)B對小區(qū)C的干擾,包括3個信息。
(1)Ⅳc:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)的信號強度大于同頻干擾(C/I)楣對強度門限的測量報告數(shù)量;
(2)肋:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)的信號強度大于鄰頻干擾(C/A)相對強度門限的測量報告數(shù)量;
(3) Ntot:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)包含在Active BA List中的時間內(nèi),收集到的測量報告總數(shù)。
以上信息均通過BAR測量獲得,統(tǒng)計Ⅳc/Ntot表示同頻相關(guān)性,即小區(qū)C受到小區(qū)B同頻干擾的概率,Na/Ntot表示鄰頻相關(guān)項,即小區(qū)C受到小區(qū)B鄰頻干擾的概率,Ntot則表示采樣樣本點的大小。
小區(qū)相關(guān)性統(tǒng)計是基于BAR測量,通過對下行測量報告進行處理得到, HFCT-5208AEM最終獲得小區(qū)間相關(guān)性矩陣ICDM (Inter Cell Dependency Matrix),ICDM是小區(qū)之間相互影響情況的描述,它是頻率優(yōu)化時所使用的重要參考依據(jù)。
圖7-41中Element (C,B)表示小區(qū)B對小區(qū)C的干擾,包括3個信息。
(1)Ⅳc:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)的信號強度大于同頻干擾(C/I)楣對強度門限的測量報告數(shù)量;
(2)肋:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)的信號強度大于鄰頻干擾(C/A)相對強度門限的測量報告數(shù)量;
(3) Ntot:測量頻點(小區(qū)B的BCCH頻點)包含在Active BA List中的時間內(nèi),收集到的測量報告總數(shù)。
以上信息均通過BAR測量獲得,統(tǒng)計Ⅳc/Ntot表示同頻相關(guān)性,即小區(qū)C受到小區(qū)B同頻干擾的概率,Na/Ntot表示鄰頻相關(guān)項,即小區(qū)C受到小區(qū)B鄰頻干擾的概率,Ntot則表示采樣樣本點的大小。
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