1　引言
本文介紹的通用電路板在線測試儀采用計算機與單片機通信技術(shù)，測試儀與計算機通過串口通信，便攜性能好，適用于各種雙面印制電路板的測試與診斷。
2　電路在線測試技術(shù)
2.1　在線測試原理
在線測試的基本原理是測試儀為印制電路板上的被測芯片提供輸入激勵，同時在計算機控制下自動采集記錄被測芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值，通過計算機將其記錄的所有狀態(tài)值與標準的狀態(tài)真值表比較，從而判斷被測對象的故障情況。
2.2　后驅(qū)動測試技術(shù)
后驅(qū)動測試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測試。其實質(zhì)是在被測器件的輸入級(前級驅(qū)動芯片的輸出級)灌入或拉出瞬態(tài)大電流，迫使其電位按要求變高或變低，達到對被測器件在線施加測試激勵的目的。
為了確保對電路板上的器件進行功能測試，就必須強制驅(qū)動器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國際防護標準文件(00-53/1)所推薦的后驅(qū)動安全標準，測試儀的最大驅(qū)動電流被設(shè)計為240mA，測試時間在200ms以內(nèi)。通過實驗，基本能夠較好地對被測器件進行隔離，同時也確保了被測器件的安全性。
3　測試儀組成
3.1　硬件模塊
測試儀由便攜式計算機、單片機測試平臺及測試分析處理軟件構(gòu)成。其中單片機測試平臺在計算機控制下完成被測對象數(shù)據(jù)的采集，其基本原理框圖如圖1所示。各部分功能及說明如下：

圖1 單片機測試平臺原理框圖
單片機電路主要完成數(shù)據(jù)采集、控制、命令處理，與計算機進行數(shù)據(jù)交換。在測試儀設(shè)計中采用了MCS-51系列8031單片機，選用2764作為擴展ROM，6264作為擴展RAM。譯碼芯片電路為74LS138。為與計算機進行串行通信，采用MCl488和MC1489進行RS-232C電平與TTL電平的相互轉(zhuǎn)換。單片機系統(tǒng)時鐘頻率選用6MHz晶振，通信波特率選用2400，單片機采用工作方式3進行串行通信。定時器T1設(shè)置為方式2。設(shè)定SMOD=1，時間常數(shù)F3H。
總線驅(qū)動器對單片機總線進行擴展，提高其驅(qū)動能力，選用74LS244、74LS245線驅(qū)動器。
驅(qū)動控制電路主要完成測試過程中TTL、CMOS測試門限的控制，選用4重SPST(單刀單擲)DG211模擬開關(guān)，開關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開機時處于常開(OFF)狀態(tài)，控制線增加上拉電阻(10kΩ)。測試驅(qū)動電路為被測芯片施加測試輸入信號，采用微型繼電器進行輸入信號控制，測試信號由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達到設(shè)計要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進行大電流緩沖，并設(shè)計二極管保護電路。
數(shù)據(jù)采集電路讀取被測芯片輸出響應(yīng)，采用雙電壓比較器LM393進行輸出信號控制。它的功耗低，比較精度高，并且可與TTL邏輯相兼容。LM393輸出與74LS373數(shù)據(jù)鎖存器相聯(lián)，由單片機控制讀入比較數(shù)據(jù)。
電壓驅(qū)動D/A電路完成VI測試過程中階梯電壓的輸出。采用8位并行D/A轉(zhuǎn)換器MC1408。芯片電源電壓為+5V，－12V兩種。參考電壓由恒流穩(wěn)壓源TL431提供。輸出選擇雙極性輸出，由兩級放大電路LM348完成。
電流變換采集A/D電路實施測試點電流數(shù)據(jù)的采集。電路中采用負載電阻及差分放大電路LM343對測試點進行電壓跟隨，將測試點的電流值轉(zhuǎn)換為A/D變換電路可以處理的電壓量。選用AD7574八位逐次比較式高速A/D變換電路。轉(zhuǎn)換時間為15μS，單+5V電源供電。參考電壓選用VREF=-8V。輸入電壓范圍為0~+|VREF|。程序控制芯片RD端產(chǎn)生一個負脈沖就可啟動A/D轉(zhuǎn)換。
3.2　軟件模塊
測試儀由便攜式主控計算機通過串行口進行控制，單片機測試平臺完成激勵控制、數(shù)據(jù)采集等工作，所有數(shù)據(jù)分析處理及命令控制由便攜式主計算機完成。整套測試軟件由主控軟件、數(shù)據(jù)通信軟件、離線測試軟件、在線功能測試軟件、在線狀態(tài)測試軟件、VI特性測試軟件、節(jié)點電壓測試軟件、電子手冊、測試開發(fā)軟件、系統(tǒng)自檢軟件等幾個主要模塊組成。
4　測試儀主要功能
測試儀采用電路在線測試技術(shù)，可以用來在線或離線測試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。
·數(shù)字芯片的功能測試測試的基本原理是檢測并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標準的狀態(tài)真值表進行比較，從而判斷被測芯片功能是否正確。
·數(shù)字芯片的狀態(tài)測試電路板上每個數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征:各管腳的邏輯狀態(tài)(電源、地、高阻、信號等)、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。測試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計算機的數(shù)據(jù)庫中，然后與同類有故障的電路板進行比較，從而準確地找出故障部位。
·VI特性測試分析該項測試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測試。測試儀通過測試探棒或測試夾自動把被測點的特征曲線提取出來，顯示在微機屏幕上，最后存入計算機。進特故障診斷時，將實測到的VI曲線與