衍射效應(yīng)越顯著
發(fā)布時(shí)間:2015/5/13 21:10:15 訪問(wèn)次數(shù):490
(1)縫寬越小,衍射效IR2166S應(yīng)越顯著,光學(xué)放大比越大;
(2)縫寬變小,衍射條紋拉開(kāi),光強(qiáng)分希各級(jí)次的絕對(duì)強(qiáng)度減弱,高級(jí)次條紋不能測(cè)量;
(3)縫寬變大,條紋密集,測(cè)量靈敏度降低,當(dāng)6≥0. 5mm時(shí),衍射測(cè)量就失去意義。
衍射測(cè)量的最大量程是0. 5mm,絕對(duì)測(cè)量的量程是0.01~0.Smm。因此,衍射測(cè)量主要用于小量程的高精度測(cè)量。
激光衍射測(cè)量主要依據(jù)單縫衍射和圓孔衍射的原理,通過(guò)測(cè)量單縫衍射暗條紋之間的距離或艾里斑第一暗環(huán)的直徑來(lái)確定被測(cè)量。根據(jù)不同的被測(cè)對(duì)象,測(cè)量方法主要有以下幾種。
1.間隙測(cè)量法
間隙測(cè)量法是基于單縫衍射原理,是衍射測(cè)量基本方法,主要用于以下幾個(gè)方面:
(1)尺寸的比較測(cè)量。如圖7-21(a)所示,先用標(biāo)準(zhǔn)尺寸的工件相對(duì)參考邊的間隙作為零位,然后放上工件,測(cè)量間隙的變化量而推算出工件尺寸。
(2)工件形狀的輪廓測(cè)量。如圖7-21(b)所示,同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)參考物和工件,由間隙變化得到工件輪廓相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)輪廓的偏差。
(1)縫寬越小,衍射效IR2166S應(yīng)越顯著,光學(xué)放大比越大;
(2)縫寬變小,衍射條紋拉開(kāi),光強(qiáng)分希各級(jí)次的絕對(duì)強(qiáng)度減弱,高級(jí)次條紋不能測(cè)量;
(3)縫寬變大,條紋密集,測(cè)量靈敏度降低,當(dāng)6≥0. 5mm時(shí),衍射測(cè)量就失去意義。
衍射測(cè)量的最大量程是0. 5mm,絕對(duì)測(cè)量的量程是0.01~0.Smm。因此,衍射測(cè)量主要用于小量程的高精度測(cè)量。
激光衍射測(cè)量主要依據(jù)單縫衍射和圓孔衍射的原理,通過(guò)測(cè)量單縫衍射暗條紋之間的距離或艾里斑第一暗環(huán)的直徑來(lái)確定被測(cè)量。根據(jù)不同的被測(cè)對(duì)象,測(cè)量方法主要有以下幾種。
1.間隙測(cè)量法
間隙測(cè)量法是基于單縫衍射原理,是衍射測(cè)量基本方法,主要用于以下幾個(gè)方面:
(1)尺寸的比較測(cè)量。如圖7-21(a)所示,先用標(biāo)準(zhǔn)尺寸的工件相對(duì)參考邊的間隙作為零位,然后放上工件,測(cè)量間隙的變化量而推算出工件尺寸。
(2)工件形狀的輪廓測(cè)量。如圖7-21(b)所示,同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)參考物和工件,由間隙變化得到工件輪廓相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)輪廓的偏差。
上一篇:移相板的工作原理
上一篇:應(yīng)變傳感器
熱門(mén)點(diǎn)擊
- 描述光電倍增管的時(shí)間特性有三個(gè)參數(shù)
- 控制器接線時(shí)注意“正”“負(fù)”極性,要求紅線接
- 相位檢測(cè)原理
- 太陽(yáng)能電池組件所輸出的最大功率稱為峰值功率
- 眩光控制等級(jí)
- 串聯(lián)型充放電控制器的基本工作原理
- LabVIEW中的數(shù)據(jù)類型包括基本類型
- 典型的相敏檢波電路
- 葉片的結(jié)構(gòu)
- 靈敏度與光電特性
推薦技術(shù)資料
- 聲道前級(jí)設(shè)計(jì)特點(diǎn)
- 與通常的Hi-Fi前級(jí)不同,EP9307-CRZ這臺(tái)分... [詳細(xì)]
- 可編程模擬信號(hào)橋
- TrustZone、段碼 LCD 控制器產(chǎn)品
- 高性能降壓控制器
- CMOS 集成開(kāi)關(guān)運(yùn)算放大器
- I2C串行接口指尖觸摸屏控制器
- 高精度(60 µV)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究