紅外吸收強度的測量
發(fā)布時間:2015/6/10 19:32:04 訪問次數(shù):730
用來研究吸收、 G32A-A40發(fā)射或熒光的電磁輻射的強度和波長的關(guān)系的儀器叫做光譜儀或分光光度計。這一類儀器一般包括五個基本單元,即光源、單色器、樣品容器、檢測器和讀出器件。根據(jù)不同的應(yīng)用情況,適當改變一些部件或結(jié)構(gòu),但都基本圍繞這些進行設(shè)計開發(fā)應(yīng)用在各個領(lǐng)域中。利用紅外光譜法,對紅外光譜譜線分析的,這種設(shè)計較復(fù)雜些,成本會相當高,然而通過光譜特定區(qū)域內(nèi)光強度的測定分析,這種方法設(shè)計相對簡單,應(yīng)用領(lǐng)域也相當廣泛。兩種方法的原理基本相似,只是選取分析的對象不一樣,選取光強度的測定分析基本采用熱或光子探測器來實現(xiàn)。
通常用于光強度探測的檢測器可分為兩類:對光子有響應(yīng)的光檢測器,對熱產(chǎn)生響應(yīng)的熱檢測器。光檢測器有光電管、光電增管、半導(dǎo)體等。熱檢測器是吸收輻射并根據(jù)吸收引起的熱效應(yīng)來測量入射輻射的強度,包括熱電檢測器、熱電偶等。
用來研究吸收、 G32A-A40發(fā)射或熒光的電磁輻射的強度和波長的關(guān)系的儀器叫做光譜儀或分光光度計。這一類儀器一般包括五個基本單元,即光源、單色器、樣品容器、檢測器和讀出器件。根據(jù)不同的應(yīng)用情況,適當改變一些部件或結(jié)構(gòu),但都基本圍繞這些進行設(shè)計開發(fā)應(yīng)用在各個領(lǐng)域中。利用紅外光譜法,對紅外光譜譜線分析的,這種設(shè)計較復(fù)雜些,成本會相當高,然而通過光譜特定區(qū)域內(nèi)光強度的測定分析,這種方法設(shè)計相對簡單,應(yīng)用領(lǐng)域也相當廣泛。兩種方法的原理基本相似,只是選取分析的對象不一樣,選取光強度的測定分析基本采用熱或光子探測器來實現(xiàn)。
通常用于光強度探測的檢測器可分為兩類:對光子有響應(yīng)的光檢測器,對熱產(chǎn)生響應(yīng)的熱檢測器。光檢測器有光電管、光電增管、半導(dǎo)體等。熱檢測器是吸收輻射并根據(jù)吸收引起的熱效應(yīng)來測量入射輻射的強度,包括熱電檢測器、熱電偶等。
熱門點擊
- 激光準直儀的原理和基本結(jié)構(gòu)
- 光柵刻線數(shù)
- 從上面的討論可以看出,光外差檢測具有以下幾個
- 雙折射現(xiàn)象
- 系統(tǒng)軟件總體流程圖
- 干涉信號的移相技術(shù)
- 中等分辨率成像光譖儀( MERIS)
- 光的時間相干性決定于光源的單色性
- 不直度的測量
- 比色測溫
推薦技術(shù)資料
- 泰克新發(fā)布的DSA830
- 泰克新發(fā)布的DSA8300在一臺儀器中同時實現(xiàn)時域和頻域分析,DS... [詳細]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究