縱觀世界和我國可靠性技術的發(fā)展史，J00000A0066可靠性技術大體可分為四個階段。

   第一階段：調(diào)查研究階段，主要對電子產(chǎn)品可靠性問題的嚴重性、環(huán)境應力對失效機理的影響、可靠性總體工作的內(nèi)容等進行調(diào)查研究；

   第二階段：統(tǒng)計試驗階段，主要對電子產(chǎn)品進行統(tǒng)計壽命試驗及環(huán)境試驗，定量地得出電子元器件或整機的可靠性水平，同時制訂出各種環(huán)境試驗方法的標準；

   第三階段：可靠性物理研究階段，主要對可靠性問題的本質(zhì)（故障或失效的模式及其機理）進行分析研究，并探討和提出各種加速試驗的方法；

   第四階段：可靠性保證階段，也就是在了解可霏性現(xiàn)象和本質(zhì)的基礎上，從產(chǎn)品研制開始到使用的各個階段，加強可靠性管理和保證、評價、認證及控制，建立可靠性數(shù)據(jù)收集、交換體系和數(shù)據(jù)中心。

   目前國外電子元器件可靠性方面的主要工作已經(jīng)全面而深入地展開，研究重點滲透到整機、系統(tǒng)可靠性與維修性(R&M)的研究工作中，隨著計算機的深入，從重視硬件可靠性轉(zhuǎn)向軟件可靠性的研究中，包括可靠性數(shù)據(jù)處理、設計等，可靠性學科正在廣泛實踐的基礎上加速發(fā)展。不僅如此，目前對產(chǎn)品可靠性的研究工作已經(jīng)提高到節(jié)約資源和能源的高度來認識。通過可靠性設計，可以有效地利用材料，增長產(chǎn)品使用期限，獲得體積小、重量輕的產(chǎn)品，這也是今后的可靠性研究方向之一。