可靠性試驗的分類
發(fā)布時間:2015/6/19 21:17:38 訪問次數(shù):1194
可靠性試驗按試驗?zāi)康目煞譃榭煽啃澡b定試驗、壽命試驗、耐久性試驗、篩選試驗、D203S可靠性增長試驗等。可靠性鑒定試驗是為確定產(chǎn)品的可靠性特征值是否達(dá)到所要求的水平而進(jìn)行的試驗;壽命試驗是為評價分析產(chǎn)品的壽命特征值而進(jìn)行的試驗;耐久性試驗是為考察產(chǎn)品的性能與所施加的應(yīng)力條件的影響關(guān)系而在一定時間內(nèi)所進(jìn)行的試驗;篩選試驗是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗;可靠性增長試驗是通過
采取糾正措施,系統(tǒng)并永久地消除某些失效機(jī)理,使元器件可靠性獲得提高,從而滿足或超過預(yù)定的可靠性要求的試驗?煽啃栽囼灧诸惾绫3.2所示。
表3 2可靠性試驗的分類
可靠性試驗按試驗項目分為四大類:環(huán)境試驗、壽命試驗、現(xiàn)場使用試驗和特殊檢測試驗等,其試驗類別和試驗項目如表3.3所示。
表3.3按試驗項目的分類表
可靠性試驗按試驗?zāi)康目煞譃榭煽啃澡b定試驗、壽命試驗、耐久性試驗、篩選試驗、D203S可靠性增長試驗等?煽啃澡b定試驗是為確定產(chǎn)品的可靠性特征值是否達(dá)到所要求的水平而進(jìn)行的試驗;壽命試驗是為評價分析產(chǎn)品的壽命特征值而進(jìn)行的試驗;耐久性試驗是為考察產(chǎn)品的性能與所施加的應(yīng)力條件的影響關(guān)系而在一定時間內(nèi)所進(jìn)行的試驗;篩選試驗是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗;可靠性增長試驗是通過
采取糾正措施,系統(tǒng)并永久地消除某些失效機(jī)理,使元器件可靠性獲得提高,從而滿足或超過預(yù)定的可靠性要求的試驗?煽啃栽囼灧诸惾绫3.2所示。
表3 2可靠性試驗的分類
可靠性試驗按試驗項目分為四大類:環(huán)境試驗、壽命試驗、現(xiàn)場使用試驗和特殊檢測試驗等,其試驗類別和試驗項目如表3.3所示。
表3.3按試驗項目的分類表
熱門點(diǎn)擊
- 兩者的光程差為激光半波長的偶數(shù)倍時出現(xiàn)亮條紋
- 圓球形容器承受的爆炸壓力最大
- 提高光能效率的辦法是采用無入射狹縫的光譜成像
- 熒光的應(yīng)用
- 可靠性試驗的分類
- 可靠性數(shù)學(xué)
- 供固體式樣用的光電熒光計
- 近幾年才在礦用紅外氣體檢測方法的研究方面有所
- 紅外光源在繼續(xù)亮模式
- 在光學(xué)度盤式圓分度測量裝置中
推薦技術(shù)資料
- 業(yè)余條件下PCM2702
- PGM2702采用SSOP28封裝,引腳小而密,EP3... [詳細(xì)]
- 最新一代600V超級接面MOSFET KP3
- 業(yè)界新品1700V碳化硅MOS
- 新一代光纖通信200Gbps
- 業(yè)界首款2000W高瓦數(shù)電源方
- IMC302A搭配IPM模塊應(yīng)用探究
- 低功耗入墻式 AP 系列射頻前
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究