可靠性篩選所施加的應(yīng)力強(qiáng)度只加速在正常使用條件下發(fā)生的失效機(jī)理，CS5532-ASZ而不出現(xiàn)新的失效因子，以保證工藝篩選的合理性和高效率，使得在最短時(shí)間內(nèi)將早期失效的產(chǎn)品剔除，而對(duì)好的產(chǎn)品又不產(chǎn)生損傷。因此，應(yīng)力強(qiáng)度過大或過小，時(shí)間過長或過短均帶來不好的結(jié)果。

   對(duì)于工藝過關(guān)、生產(chǎn)穩(wěn)定的元器件，可以從大量產(chǎn)品的使用情況中統(tǒng)計(jì)出失效率與應(yīng)力強(qiáng)度的關(guān)系曲線，如圖3.8所示。從圖3.8中可以看出：曲線顯示出兩種失敖分布，區(qū)域A為正態(tài)分布，表征可靠產(chǎn)品的失效特性，可靠產(chǎn)品的平均失效應(yīng)力遠(yuǎn)在產(chǎn)品平均使用應(yīng)力之外；區(qū)域B、C、D代表使用中的不可靠產(chǎn)品，實(shí)際使用時(shí)的平均應(yīng)力分布一般較低；因此，應(yīng)在不超過篩選應(yīng)力上限的情況下，選擇適當(dāng)?shù)暮Y選應(yīng)力強(qiáng)度，如某類型的硅半導(dǎo)體管，其篩選應(yīng)力上限為200℃，平均使用應(yīng)力在45℃左右，平均失效應(yīng)力在350℃以上。    ’

   篩選時(shí)間是與篩選試驗(yàn)項(xiàng)目和應(yīng)力有關(guān)的，可通過摸底試驗(yàn)來確定。一般來說，可以做出篩選應(yīng)力下的失效率分布曲線，如圖3.9所示，選擇篩選時(shí)應(yīng)是曲線轉(zhuǎn)折點(diǎn)，即早期失效期的終端。

   篩選時(shí)間可以通過統(tǒng)計(jì)分析方法來確定，例如老化篩選，它是可靠性篩選中常用的一種方法。下面介紹通過摸底試驗(yàn)初步確定老化篩選時(shí)間的方法。