此式就是解釋加速曲線的阿倫尼斯方程，可以看出：電子元器件或材料產(chǎn)生一定百分比失效時間（或壽命）￡的對數(shù)與其所施加溫度的倒數(shù)呈線性關(guān)系， C052K101K2X5CA7301這可通過單邊對數(shù)紙描圖來得到。從lg￡～{曲線的斜率B一景l(fā)ge，可以確定出激活能E 用阿倫尼斯方程來解釋器件的高溫儲存壽命試驗是非常成功的，激活能E與方程的斜率B和器件的失效模式及失效機理有關(guān)。根據(jù)多年來的實踐積累，有關(guān)半導(dǎo)體器件與微電路不同失效模式與機理的激活能數(shù)據(jù)列于表3. 16中。

    表3 16  失效模式、失效機理與激活能

   以激活能E作為參數(shù)，可以繪出不同E時溫度與壽命的關(guān)系，如圖3. 17所示�？梢姡�激活能越大，曲線傾斜越大，與溫度的關(guān)系越密切。