實(shí)踐證明， C052B104K5X5CA當(dāng)溫度升高以后，器件劣化的物理化學(xué)反應(yīng)加快，失效過(guò)程加速，而阿倫尼斯( Arrhenius)模型描述了由溫度應(yīng)力決定的化學(xué)反應(yīng)速度依賴(lài)關(guān)系的規(guī)律性，為加速壽命試驗(yàn)提供了理論依據(jù)。它假設(shè)熱應(yīng)力（溫度）是造成元器件或材料的性能參數(shù)劣化（或退化）失效的主要原因。因?yàn)椴簧僭骷透叻肿硬牧媳砻鎽B(tài)的變化及物理化學(xué)變化將導(dǎo)致性能參數(shù)超過(guò)規(guī)定的范圍而引起失效。這些物理或化學(xué)反應(yīng)的速率與溫度密切相關(guān)。通常，隨著溫度的升高，反應(yīng)的速度將加快，從而使元器件或材料的失效次數(shù)也增多。阿倫尼斯反應(yīng)速率方程就是從實(shí)踐中總結(jié)出來(lái)的經(jīng)驗(yàn)公式．即式中，M(T)是參加變化的化學(xué)反應(yīng)量，在這里指元器件失效數(shù)；R(t)為化學(xué)反應(yīng)速率，這里指單位時(shí)間內(nèi)失效數(shù)的改變量；Ao為常數(shù)；T為絕對(duì)零度；K為玻爾茲曼常數(shù)，等于0. 8617×10-4 (eV]℃)；E為引起某些參數(shù)失效或退化過(guò)程的激活能(eV)。   

   從量子力學(xué)可知，電子元器件或材料都位于一定勢(shì)壘阱中，如圖3. 16所示，元器件或材料的特性都處在一定勢(shì)能V（導(dǎo)）下，對(duì)一定范圍內(nèi)的車(chē)認(rèn)為是“好”的，對(duì)其他范圍的導(dǎo)認(rèn)為是“壞”的或失效的。因?yàn)椋?/span>從好品過(guò)渡到壞品通常需要一個(gè)時(shí)間間隔，即好品在工作應(yīng)力或環(huán)境應(yīng)力下，使能量逐漸積累到能克服這o

勢(shì)壘能量時(shí)，才導(dǎo)致由“好”變?yōu)椤皦摹保瑥亩斐稍?/span>件或材料的失效。而這個(gè)勢(shì)壘能量E就是產(chǎn)品由“好”變“壞”的最低激活能量，稱(chēng)為激活能，而這些能量的積累是由溫度應(yīng)力積累而引起的。不同失效機(jī)理所需要的反應(yīng)激活能是不同的，而相同失效機(jī)理所需的激活能量是相等的，所以可以根據(jù)試驗(yàn)求出引起各種失效機(jī)理的反應(yīng)激活能E。因?yàn)橐话汶娮釉骷蠖鄶?shù)是由溫度應(yīng)力導(dǎo)致的失效，歷以，常用此模型來(lái)描述加速壽命試驗(yàn)。