艾林( Eyring)模型是從量子力學(xué)推導(dǎo)出來的，它表示某些電子元器件或材料參數(shù)退化的時間速率僅僅與由溫度所引起的物理或化學(xué)反應(yīng)速率有關(guān).

   除了考慮熱應(yīng)力的作用外， C052K104K5X5CA7301廣義艾林模型還考慮了其他非熱應(yīng)力s的作用。這對于電子元器件在復(fù)雜工作環(huán)境下失效的實(shí)際情況是比較符合的，其反應(yīng)速率方程，ecs表示由于菲熱應(yīng)力對能量分布的調(diào)整；e并表示由于非熱應(yīng)力對激活能的調(diào)整。

   在加速壽命試驗(yàn)中，也有用濕度作為加速變量的，也有同時采用濕度應(yīng)力和電應(yīng)力進(jìn)行加速的。如THB(高溫、高濕、偏置)加速試驗(yàn)，其主要目的是評價器件的耐潮濕壽命，采用公式為必須指出：上述這些模型僅僅對某一范圍內(nèi)的應(yīng)力值適用，在此范圍之外就不一定適用，因?yàn)樗赡軐?dǎo)致失效機(jī)理的改變，使用時必須特別慎重。對于電子元器件或材料的加速壽命試驗(yàn)?zāi)Ｐ�，最常用的是逆冪率和阿倫尼斯模型�?/span>