電阻器的主要失效因素

   電阻器失效可分為兩大類，即致命FBMH1608HM601-T失效和參數(shù)漂移失效。從現(xiàn)場使用失效統(tǒng)計表明，電阻器失效的原因85%～90%屬于致命性失效，如斷路、機(jī)械損傷、接觸損壞、短路、絕緣擊穿等，只有10%左右由阻值漂移導(dǎo)致。

   導(dǎo)致電阻器失效的因素主要有如下幾個方面。

   (1)導(dǎo)電材料結(jié)構(gòu)的變化

   對于薄膜型非線繞電阻，以沉積方法得到的導(dǎo)電膜層中存在無定形結(jié)構(gòu)。在通常環(huán)境條件下或工作條件下，無定形體將以或高或低的速度向結(jié)晶化趨勢發(fā)展，這個過程將導(dǎo)致電阻值的變化，特別是對精密電阻器會因此而造成失效。

   對于線繞電阻器，在制造過程中合金電阻線會受到各種機(jī)械應(yīng)力的作用導(dǎo)致內(nèi)部結(jié)構(gòu)發(fā)生某些畸變，這種畸變會隨時間逐步消失。然而，由此將導(dǎo)致電阻線的電阻發(fā)生變化。

   (2)吸附效應(yīng)的影響

   在非線繞電阻器導(dǎo)電體的晶粒界面上，會吸附一定數(shù)量的氣體，從而構(gòu)成了晶粒間的中間層，這將影響其阻值。在工作或存放期間由于吸附氣體的逐漸釋放，導(dǎo)致阻值的變化。當(dāng)電阻器具有強(qiáng)烈的氣體吸附效應(yīng)時，其工作初期極不穩(wěn)定，但經(jīng)過長期擱置之后其阻值會逐步趨于穩(wěn)定。電阻器氣體吸附和解吸過程從表面到體內(nèi)逐漸減弱，因此對薄膜電阻器影響就比較明顯。