CMOS或門邏輯功能測試
發(fā)布時間:2015/8/18 21:20:11 訪問次數(shù):965
在數(shù)字電路實驗箱上驗證CMOS或門邏輯關(guān)系,FDPF18N50將測試結(jié)果填入表2.1.5中。
實驗主要儀器
1. 74LS20與非門 1片
2.CD4072或門 1片
3.?dāng)?shù)字電路實驗箱 1臺
4.萬用表及工具 1套
實驗報告內(nèi)容
1.說明門電路的外特性參數(shù)測試原理。
2.記錄和整理實驗測試值,并對結(jié)果進(jìn)行分析。
3.總結(jié)實驗過程中遇到的問題及其解決方法。
表2.1.5 CD4072或門邏輯功能表
思考題
1.若用TTL與非門74LS20實現(xiàn)Y=AB,則多余輸入端如何處理?
2.若用CMOS或門CD4072實現(xiàn)Y=A+B,則多余輸入端如何處理?
3.在TTL門電路的外特性參數(shù)測試過程中,為什么輸入端懸空相當(dāng)于輸入高電平?
在數(shù)字電路實驗箱上驗證CMOS或門邏輯關(guān)系,FDPF18N50將測試結(jié)果填入表2.1.5中。
實驗主要儀器
1. 74LS20與非門 1片
2.CD4072或門 1片
3.?dāng)?shù)字電路實驗箱 1臺
4.萬用表及工具 1套
實驗報告內(nèi)容
1.說明門電路的外特性參數(shù)測試原理。
2.記錄和整理實驗測試值,并對結(jié)果進(jìn)行分析。
3.總結(jié)實驗過程中遇到的問題及其解決方法。
表2.1.5 CD4072或門邏輯功能表
思考題
1.若用TTL與非門74LS20實現(xiàn)Y=AB,則多余輸入端如何處理?
2.若用CMOS或門CD4072實現(xiàn)Y=A+B,則多余輸入端如何處理?
3.在TTL門電路的外特性參數(shù)測試過程中,為什么輸入端懸空相當(dāng)于輸入高電平?
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