設(shè)計(jì)校驗(yàn)是指對(duì)上述邏輯設(shè)計(jì)進(jìn)行仿真和測(cè)試，以驗(yàn)證邏輯設(shè)計(jì)是否滿足設(shè)計(jì)功能要求。 M25P32V6它與設(shè)計(jì)過程同步進(jìn)行，包括功能仿真、時(shí)序仿真和器件測(cè)試。

   (1)功能仿真

   功能仿真一般在設(shè)計(jì)輸入階段進(jìn)行，它只驗(yàn)證邏輯設(shè)計(jì)的正確性，而不考慮器件內(nèi)部由于布局布線可能造成的信號(hào)時(shí)延等因素。

   (2)時(shí)序仿真

   時(shí)序仿真是在選擇了具體的器件并完成了有局、布線后進(jìn)行的仿真，由于選擇不同的器件、不同的布局、布線方案會(huì)給設(shè)計(jì)帶來(lái)極大的影響，因此，時(shí)序仿真對(duì)于分析定時(shí)關(guān)系、估計(jì)設(shè)計(jì)性能是非常必要的。

   (3)器件測(cè)試

   器件編程后，需要在線測(cè)試器件的功能和性能指標(biāo)，看其是否達(dá)到最終目標(biāo)。對(duì)于支持聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組(Joint Text Action Group，簡(jiǎn)稱JTAG)技術(shù)，具有邊界掃描測(cè)試(BoundaryScan Testing，簡(jiǎn)稱BST)或在系統(tǒng)編程功能的器件，可方便地用編譯時(shí)產(chǎn)生的文件對(duì)器件進(jìn)行校驗(yàn)。