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半導(dǎo)體集成電路的制造主要在中規(guī)模集成電路( MSI)的水平

發(fā)布時(shí)間:2015/10/22 20:57:01 訪問次數(shù):860

   1963午,塑封在IRFR9024NTR硅器件E的使用加速了價(jià)格的下跌,同一年,美國無線電( RCA)公司宣布開發(fā)出廠絕緣場效應(yīng)管( IFET),這為MOS工業(yè)的發(fā)展鋪平了道路。RCA還制造出了第一個(gè)互補(bǔ)型MOS( CMOS)電路。

   在20世紀(jì)70年代初,半導(dǎo)體集成電路的制造主要在中規(guī)模集成電路( MSI)的水平,向有利潤并高產(chǎn)的大規(guī)模集成電路( LSJ)的發(fā)展在某種程度上受到了掩模版引起的缺陷和由接觸光刻機(jī)(Contact Aligner)造成的晶圓損傷的阻礙。Perkin and Elmer公司開發(fā)出了第一個(gè)實(shí)際應(yīng)用的投射光刻機(jī),從而解決了掩模版和光刻機(jī)的缺陷問題。

   在這f‘年中,潔凈間的結(jié)構(gòu)和運(yùn)行得到r提高,并出現(xiàn)了離子注入機(jī),用于高質(zhì)量掩模版的電子束( e-beam)機(jī),以及用于晶圓光刻掩模步進(jìn)式光刻機(jī)(Stepper)開始出現(xiàn)。

   工藝過程的自動化從旋轉(zhuǎn)涂膠/烘焙和顯影/烘焙開始,從操作員控制發(fā)展到工藝過程的自動控制提高r產(chǎn)量和產(chǎn)品的一致性。

   20世紀(jì)80年代的焦點(diǎn)是如何從生產(chǎn)區(qū)域取消操作工和如何實(shí)現(xiàn)晶圓制造、封裝的全程自動化,、自動化提高了制造效率,使加工失誤減到最小,并保持晶圓制造區(qū)更少的沾污。300 mm的晶圓在20世紀(jì)90年伐被引入,進(jìn)一步促進(jìn)了對自動化晶圓廠的需求(見第4章和第15章)、

   20世紀(jì)80年代的10年以美國和歐洲占統(tǒng)治地位開始,以半導(dǎo)體成為全球產(chǎn)業(yè)而結(jié)束j從20世紀(jì)70到80年代,1肌m特征圖形尺寸的障礙顯示了機(jī)遇和挑戰(zhàn)。機(jī)遇是指,這會是一個(gè)具有極高的速度和存儲能力自‘萬芯片的紀(jì)元。挑戰(zhàn)是指傳統(tǒng)光刻由于新增層、更大的晶圓表面臺階高度變化和晶圓直徑增大造成的局限。l¨m的障礙是在20世紀(jì)90年初期被突破的,50%的微芯片生產(chǎn)線在生產(chǎn)微米級和低于微米級的產(chǎn)品7。

   1963午,塑封在IRFR9024NTR硅器件E的使用加速了價(jià)格的下跌,同一年,美國無線電( RCA)公司宣布開發(fā)出廠絕緣場效應(yīng)管( IFET),這為MOS工業(yè)的發(fā)展鋪平了道路。RCA還制造出了第一個(gè)互補(bǔ)型MOS( CMOS)電路。

   在20世紀(jì)70年代初,半導(dǎo)體集成電路的制造主要在中規(guī)模集成電路( MSI)的水平,向有利潤并高產(chǎn)的大規(guī)模集成電路( LSJ)的發(fā)展在某種程度上受到了掩模版引起的缺陷和由接觸光刻機(jī)(Contact Aligner)造成的晶圓損傷的阻礙。Perkin and Elmer公司開發(fā)出了第一個(gè)實(shí)際應(yīng)用的投射光刻機(jī),從而解決了掩模版和光刻機(jī)的缺陷問題。

   在這f‘年中,潔凈間的結(jié)構(gòu)和運(yùn)行得到r提高,并出現(xiàn)了離子注入機(jī),用于高質(zhì)量掩模版的電子束( e-beam)機(jī),以及用于晶圓光刻掩模步進(jìn)式光刻機(jī)(Stepper)開始出現(xiàn)。

   工藝過程的自動化從旋轉(zhuǎn)涂膠/烘焙和顯影/烘焙開始,從操作員控制發(fā)展到工藝過程的自動控制提高r產(chǎn)量和產(chǎn)品的一致性。

   20世紀(jì)80年代的焦點(diǎn)是如何從生產(chǎn)區(qū)域取消操作工和如何實(shí)現(xiàn)晶圓制造、封裝的全程自動化,、自動化提高了制造效率,使加工失誤減到最小,并保持晶圓制造區(qū)更少的沾污。300 mm的晶圓在20世紀(jì)90年伐被引入,進(jìn)一步促進(jìn)了對自動化晶圓廠的需求(見第4章和第15章)、

   20世紀(jì)80年代的10年以美國和歐洲占統(tǒng)治地位開始,以半導(dǎo)體成為全球產(chǎn)業(yè)而結(jié)束j從20世紀(jì)70到80年代,1肌m特征圖形尺寸的障礙顯示了機(jī)遇和挑戰(zhàn)。機(jī)遇是指,這會是一個(gè)具有極高的速度和存儲能力自‘萬芯片的紀(jì)元。挑戰(zhàn)是指傳統(tǒng)光刻由于新增層、更大的晶圓表面臺階高度變化和晶圓直徑增大造成的局限。l¨m的障礙是在20世紀(jì)90年初期被突破的,50%的微芯片生產(chǎn)線在生產(chǎn)微米級和低于微米級的產(chǎn)品7。

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