微電子技術(shù)的問(wèn)世，一方ADS7829IBDRBT面，使得以大規(guī)模集成電路為基礎(chǔ)的微處理器技術(shù)迅猛發(fā)展，并迅速應(yīng)用于各種檢測(cè)技術(shù)。由于微處理器具有數(shù)據(jù)的運(yùn)算、處理、校驗(yàn)、邏輯判斷、存儲(chǔ)等功能，檢測(cè)裝置與它相結(jié)合，能實(shí)現(xiàn)原檢測(cè)裝置無(wú)法實(shí)現(xiàn)的許多功能。例如，能通過(guò)功能鍵送入的指令，按預(yù)先編制并在機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)的操作程序，完成自校準(zhǔn)、自調(diào)零、自選量程和自動(dòng)檢測(cè)等，從而可減小原檢測(cè)裝置的非線(xiàn)性及零位誤差，提高了檢測(cè)精度；又能按各參數(shù)之間的關(guān)系式，通過(guò)計(jì)算機(jī)進(jìn)行參數(shù)變換，從而可以通過(guò)某些參數(shù)的測(cè)試而自動(dòng)求出一系列其他有關(guān)的未知數(shù)，便于實(shí)現(xiàn)多參數(shù)測(cè)試；還能根據(jù)誤差理論對(duì)測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，求出誤差，并從測(cè)量結(jié)果中扣除，提高了測(cè)量精度。另一方面，光電測(cè)技術(shù)也有了更為廣闊的應(yīng)用空間。隨著微處理器技術(shù)的發(fā)展及光電檢測(cè)技術(shù)與它的緊密結(jié)合，光電檢測(cè)技術(shù)將越來(lái)越智能化。當(dāng)前人們?cè)谏�、醫(yī)學(xué)、骯天、靈巧武器、數(shù)字通信等許多領(lǐng)域越來(lái)越多地使用微系統(tǒng)，因此微機(jī)電系統(tǒng)成為當(dāng)前研究的一個(gè)熱點(diǎn)。而微機(jī)電系統(tǒng)要求有微型測(cè)量裝置，這樣，微型光、機(jī)、電測(cè)試系統(tǒng)也就毫無(wú)疑問(wèn)地成為重要的研究方向。

   總之，光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展離不開(kāi)現(xiàn)代科技的發(fā)展，而新型光電檢測(cè)系統(tǒng)的出現(xiàn)和光電檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展又必將進(jìn)一步促進(jìn)現(xiàn)代科技的發(fā)展。