當(dāng)兩束相干光束的頻率相同時(shí)，若被測(cè)量變化使相干光波的相位發(fā)生變化，再通DAC712U過(guò)干涉作用把光波相位的變化變換為干涉條紋的強(qiáng)度變化，則這個(gè)過(guò)程稱為單頻光波的相位調(diào)制。

   相位調(diào)制與檢測(cè)的原理

   實(shí)際上，干涉條紋的強(qiáng)度取決于相干光的相位差，

射率門對(duì)光的傳播距離出的線積分，厶為真空中的光波波長(zhǎng)；/為光經(jīng)過(guò)的路程。

   對(duì)于均勻介質(zhì)n，可簡(jiǎn)化為而相位差又取決于光傳輸介質(zhì)的折對(duì)中的變量三和療做全微分可得到相位變化量光波傳播介質(zhì)折射率和光程長(zhǎng)度的變化都將導(dǎo)致相千光相位的變化，從而引起干涉條紋強(qiáng)度的改變。干涉測(cè)量中就是利用這一性質(zhì)改變光載波的特征參量，以形成各種光學(xué)信息的。能夠引起光程差發(fā)生變化的參量有很多，如幾何距離、位移、角度、速度、溫度引起的熱膨脹等，這些參量都會(huì)引起光波傳播距離的改變；介質(zhì)的成分、密度、環(huán)境溫度、氣壓以及介質(zhì)周圍的電場(chǎng)、磁場(chǎng)等能引起折射率的變化；從物體表面

反射光波的波面分布可以確定物體的形狀。因此，光學(xué)干涉技可以用于檢測(cè)非光學(xué)參量，是一種非常有效的檢測(cè)手段。

   因此，相位調(diào)制通常是利用不同形式的干涉儀，借助機(jī)械的、光學(xué)的、電子學(xué)的變換器件，將被測(cè)量的變化轉(zhuǎn)換為光路長(zhǎng)度三和折射率刀的變化，用于檢測(cè)幾何和機(jī)械運(yùn)動(dòng)參量，分析物質(zhì)的理化特性。