在相位調(diào)制檢測系統(tǒng)中，被測參量DAC714P 一般通過改變干涉儀中傳輸光的光程而引起對(duì)光的相位調(diào)制，由干涉儀解調(diào)出來的信息是一幅干涉圖樣，它以干涉條紋的變化反映被測參量的信息。干涉條紋由干涉場上光程差相同的場點(diǎn)的軌跡形成。干涉條紋的形狀、間隔、顏色及位置的變化，均與光程的變化有關(guān)，因此，根據(jù)干涉條紋上述諸因素的變化，可以進(jìn)行長度、角度、平面度、折射率，氣體或液體含量、光學(xué)元件面形、光學(xué)系統(tǒng)像差、光學(xué)材料內(nèi)部缺陷等各種與光程有確定關(guān)系的幾何量和物理量的測量。因此，如何檢測干涉條紋就變得十分有意義。干涉條紋檢測實(shí)際是檢測干涉條紋的光強(qiáng)度分布或其隨時(shí)間的變化�；镜臈l紋檢測法包括條紋光強(qiáng)檢測法、條紋比較法和條紋跟蹤法。