如果樣品是粉末狀或表面很粗糙，那么利用透射光測量得到吸收光譜是不可能的，而要EL8103IW-T7采用漫反射測量技術(shù)。漫反射光譜是為了測量農(nóng)產(chǎn)品、燃料、顏料等物質(zhì)成分發(fā)展起來的。

   近紅外漫反射光譜測量的基本原理是Kubelka-Munk函數(shù)。一束近紅外光入射到被測樣品（通常為粉末狀），R為樣品漫反射的反射率；S為單位長度厚度的散射系數(shù)；后為單位長度吸收系數(shù)，函數(shù)F(R)為Kubelka-Munk函數(shù)。

   在實際應(yīng)用中，通常采用吸光度法。定義反射吸光度.

   當(dāng)樣品濃度不太高時，F(xiàn)(R)與濃度C成正比.

   因此，可以通過測量R來得到F(R)，再根據(jù)F(R)與濃度C的線性關(guān)系來定量測量樣品組分濃度。當(dāng)樣品含有多種成分時，則總吸收系數(shù)七為各成分的吸收系數(shù)ki，k2，…之和，總散射系數(shù)S為各成分的散射系數(shù)Sl，S2，…之和。并且可以得到總的反射吸光度