MC分析步驟
發(fā)布時間:2016/3/2 21:22:00 訪問次數(shù):596
下面以差分對電路為例,介紹MC分析的步驟。
按照設計要求,BPW24R差分對電路中集電極負載電阻RC1和RC2是完全對稱的兩個lOkQ電阻。但是在生產中如果實際采用的是容差為5%的lOkQ電阻,采用MC分析可以模擬仿真生產的一批差分對電路產品中,由于RC1和RC2阻值的分散性而導致的電路最大放大倍數(shù)參數(shù)的分散性。
電路圖的修改
進行MC分析時,首先按下述方法將考慮其參數(shù)值存在容差的元器件RC1和RC2改換為設置有容差參數(shù)的元器件符號。
(1)將RC1和RC2符號更換為BREAKOUT庫中的Rbreak符號:實現(xiàn)需要刪除電路圖中RC1和RC2電阻符號,再調用BREAKOUT庫中的Rbreak符號放置到原先RC1和RC2電阻符號的位置。
從BREAKOUT庠中調用的Rbreak符號如圖4-15所示。其中編號R8是系統(tǒng)根據電路中已有的電阻個數(shù)自動賦予Rbreak符號的。符號下方的Rbreak為該電阻的模型名,lk是庫中該電阻的默認值。
(2)按照第2章介紹的方法,將放置在電路中的兩個Rbreak符號 R8的元器件編號分別改換為原來電路中采用的編號名RC1、RC2,阻值改OJVⅥ換為原來的lOk。 lk
(3)如果需要,則修改其默認的模型名稱Rbreak(Rbreak電阻符號及相關說明)。
下面以差分對電路為例,介紹MC分析的步驟。
按照設計要求,BPW24R差分對電路中集電極負載電阻RC1和RC2是完全對稱的兩個lOkQ電阻。但是在生產中如果實際采用的是容差為5%的lOkQ電阻,采用MC分析可以模擬仿真生產的一批差分對電路產品中,由于RC1和RC2阻值的分散性而導致的電路最大放大倍數(shù)參數(shù)的分散性。
電路圖的修改
進行MC分析時,首先按下述方法將考慮其參數(shù)值存在容差的元器件RC1和RC2改換為設置有容差參數(shù)的元器件符號。
(1)將RC1和RC2符號更換為BREAKOUT庫中的Rbreak符號:實現(xiàn)需要刪除電路圖中RC1和RC2電阻符號,再調用BREAKOUT庫中的Rbreak符號放置到原先RC1和RC2電阻符號的位置。
從BREAKOUT庠中調用的Rbreak符號如圖4-15所示。其中編號R8是系統(tǒng)根據電路中已有的電阻個數(shù)自動賦予Rbreak符號的。符號下方的Rbreak為該電阻的模型名,lk是庫中該電阻的默認值。
(2)按照第2章介紹的方法,將放置在電路中的兩個Rbreak符號 R8的元器件編號分別改換為原來電路中采用的編號名RC1、RC2,阻值改OJVⅥ換為原來的lOk。 lk
(3)如果需要,則修改其默認的模型名稱Rbreak(Rbreak電阻符號及相關說明)。
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