最壞情況分析需要確定電路中相關(guān)元器件的容差、設(shè)置WC分析參數(shù)。其中要B37940-K5102-F60考慮其參數(shù)容差的那些元器件符號的更換，以及容差參數(shù)的設(shè)置方法與MC分析中介紹的相同，下面主要介紹WC分析參數(shù)的設(shè)置方法。

   最壞情況分析與MC分析共用同一個參數(shù)設(shè)置標簽頁。在圖4-11所示電路特性分析設(shè)置標簽頁中選中“Worst-case /Sensitivity”，屏幕上顯示的設(shè)置窗口如圖4-22所示。

   圖4-22 WC分析參數(shù)設(shè)置

    在圖4-22中需要設(shè)置下述三項參數(shù)。

   1．輸出變量的確定

   在Output variable右側(cè)的對話框中輸入最壞情況分析中的輸出變量名V(out2)。

   2．WC分析選項設(shè)置

   根據(jù)需要，設(shè)置圖4-22中“Worst-case/Sensitivity options”子框內(nèi)的三個選項。

   Vary devices that have(  )tolerances：其括號中的內(nèi)容應(yīng)從其下拉式列表中的三個選項選用一項。若選用“both DEV and LOT”，則表示凡是用DEV或LOT措述其變化規(guī)律的所有模型參數(shù)，在最壞情況分析中均應(yīng)考慮。若選用“only DEV”，則表示在最壞情況分析中只考慮用DEV描述的模型參數(shù)的變化影響。若選用“only LOT”選項的含義與此類似。

    需要指出的是，若選中"both DEV and LOT”，對于同時用DEV和LOT描述的模型參數(shù)，在靈敏度分析時只考慮LOT描述的變化情況來確定最壞情況的方向。在最后一次最壞情況綜合分析時，則同時考慮DEV和LOT兩部分的作用，確定該參數(shù)的最大可能變化范圍。