(1)可以像示波器那樣直接顯示電壓和電流波形，以及對(duì)波形進(jìn)行數(shù)學(xué)計(jì)算處理。具體使LM22671MRE-5.0用方法將在5.1～5.3節(jié)詳細(xì)介紹。

   (2)電路特性參數(shù)的提取：調(diào)用Probe提供的多種Measurement函數(shù)，可以從波形中提取出表征電路特性的參數(shù)，例如增益、帶寬、中心頻率、上升時(shí)間等。用戶還可以根據(jù)需要，遵循規(guī)定的格式，自行編寫可以提取特定參數(shù)的Measurement函數(shù)，添加到Probe模塊中。5.4節(jié)將詳細(xì)介紹Probe提供的多種Measurement函數(shù)的功能特點(diǎn)，以及用戶自行編寫Measurement函數(shù)的方法。

   (3)電路性能分析：Probe模塊具有Performance Analysis功能，其作用是定量分析電路特性隨元器件參數(shù)的變化關(guān)系，有利于改進(jìn)電路設(shè)計(jì)。這是一種面向計(jì)的功能。5.5節(jié)將詳細(xì)介紹erformance Analysis的功能特點(diǎn)，以及在使用中需要注意的問題。

   (4)電路特性參數(shù)分布的直方圖統(tǒng)計(jì)：根據(jù)設(shè)詩好的電路進(jìn)行實(shí)際生產(chǎn)時(shí)，由于采用的元器件參數(shù)具有分散性，必然引起產(chǎn)品電特性的分散。在Probe中可以用直方圖顯示產(chǎn)品性能的分布。這是一種面向生產(chǎn)的設(shè)計(jì)，又稱為成品率分析、可制造性設(shè)計(jì)。5.6節(jié)將詳細(xì)介紹如何生成直方圖，以及進(jìn)行成品率分析過程中需要注意的問題。