從事可靠性預計、可靠性分析與分配、可靠性試驗、數(shù)據(jù)采集等研究。雖然可靠性有定量的指標要求，若無相應的驗證方法，那也會流于形式。G1117-33T63Uf二十世紀四五十年代在概率論和數(shù)理統(tǒng)計發(fā)展起來的基礎上，開始了指標的試驗驗證。在此期間，美國國防部頒布了MIL-STD-781“可修復的電子設備可靠性試驗等級和接收／拒收準則”，后修改為MIL-STD-781A“可靠性試驗——指數(shù)分布”，后又修改為MII,-STD-781B“可靠性試驗——指數(shù)分布”。隨后產(chǎn)生了MIL-STD-690“失效率抽樣方案和程序”，DOD-H-108“壽命和可靠性試驗抽樣程序和表格”等文件，這些標準為可靠性指標試驗驗證提供了具體方法，被世界各國采用。從工業(yè)部門的產(chǎn)品分類著眼，把設備和系統(tǒng)的可靠性視為元器件來處理。如MIL-STD-781將電子設備分為七類，分別對應環(huán)境條件A、B、C、D、E、F、G七個等級。G級最高，G級的溫度為+95℃。MIL-STD-781A將電子設備分為十類，分別對應環(huán)境條件A、A-l、B、C、D、E、F、G、H、J十個等級。最高等級為J級，溫度為+125℃。MIL-STD-781B關于電子設備酌分類與A相同，其差別在于，前者增加了用于全部產(chǎn)品的篩選（試驗），其目的是去除有早期缺陷的產(chǎn)品，試驗時間50h或1／4MTBF（Mean Time Between Failure，平均無故障時間），取其中的較小者。在試驗方案上，采用了放寬和加嚴試驗的轉(zhuǎn)換規(guī)則。這些標準使用的環(huán)境條件是振動、溫度和電壓三個單項應力。