耗損失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品的后期
發(fā)布時(shí)間:2016/3/12 21:12:42 訪問(wèn)次數(shù):939
偶然失效期出現(xiàn)在早期失效期之后,是產(chǎn)品G5626P11U的正常工作期,其特點(diǎn)是失效率比早期失效率小得多,且產(chǎn)品穩(wěn)定。失效率幾乎與時(shí)間無(wú)關(guān),可近似為一常數(shù)。通常所指的使用壽命就是這一時(shí)期,這個(gè)時(shí)期的失效由偶然不確定因素引起,失效發(fā)生的時(shí)間也是隨機(jī)的,故稱為偶然失效期。
偶然失效期產(chǎn)品的失效規(guī)律符合指數(shù)分布規(guī)律。
耗損失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品的后期,其特點(diǎn)剛好與早期失效期相反。失效率隨試驗(yàn)或工作時(shí)間增加而迅速上升,出現(xiàn)大批失效。耗損失效是由于產(chǎn)品長(zhǎng)期使用而產(chǎn)生的損耗、磨損、老化、疲勞等原因所引起的。它是構(gòu)成元器件本身的材料長(zhǎng)期化學(xué)、物理不可逆變化所造成的,是產(chǎn)品壽命的“終了”。
耗損失效期的失效概率分布函數(shù)與m>l的威布爾函數(shù)所描述的曲線相同。
但是,對(duì)于實(shí)際電子產(chǎn)品并不一定都出現(xiàn)上述三個(gè)階段。例如,工藝質(zhì)量且控制很妤的金屬膜電阻有時(shí)就不出現(xiàn)早期失效期,又如某些半導(dǎo)體器件沒(méi)有發(fā)生耗損失效期。至于個(gè)別產(chǎn)品由于設(shè)計(jì)、生產(chǎn)工藝不合理,只有早期失效期和耗損失效期,這是由于產(chǎn)品質(zhì)量過(guò)于低劣,此種產(chǎn)品不能正常使用。從上述“浴盆曲線”也可看出,在成批產(chǎn)品中,有些產(chǎn)品的失效率曲線是遞增型、遞減型和常數(shù)型,而宏觀表現(xiàn)出來(lái)的是由三種類型的失效率
曲線疊加而成。
偶然失效期出現(xiàn)在早期失效期之后,是產(chǎn)品G5626P11U的正常工作期,其特點(diǎn)是失效率比早期失效率小得多,且產(chǎn)品穩(wěn)定。失效率幾乎與時(shí)間無(wú)關(guān),可近似為一常數(shù)。通常所指的使用壽命就是這一時(shí)期,這個(gè)時(shí)期的失效由偶然不確定因素引起,失效發(fā)生的時(shí)間也是隨機(jī)的,故稱為偶然失效期。
偶然失效期產(chǎn)品的失效規(guī)律符合指數(shù)分布規(guī)律。
耗損失效期出現(xiàn)在產(chǎn)品的后期,其特點(diǎn)剛好與早期失效期相反。失效率隨試驗(yàn)或工作時(shí)間增加而迅速上升,出現(xiàn)大批失效。耗損失效是由于產(chǎn)品長(zhǎng)期使用而產(chǎn)生的損耗、磨損、老化、疲勞等原因所引起的。它是構(gòu)成元器件本身的材料長(zhǎng)期化學(xué)、物理不可逆變化所造成的,是產(chǎn)品壽命的“終了”。
耗損失效期的失效概率分布函數(shù)與m>l的威布爾函數(shù)所描述的曲線相同。
但是,對(duì)于實(shí)際電子產(chǎn)品并不一定都出現(xiàn)上述三個(gè)階段。例如,工藝質(zhì)量且控制很妤的金屬膜電阻有時(shí)就不出現(xiàn)早期失效期,又如某些半導(dǎo)體器件沒(méi)有發(fā)生耗損失效期。至于個(gè)別產(chǎn)品由于設(shè)計(jì)、生產(chǎn)工藝不合理,只有早期失效期和耗損失效期,這是由于產(chǎn)品質(zhì)量過(guò)于低劣,此種產(chǎn)品不能正常使用。從上述“浴盆曲線”也可看出,在成批產(chǎn)品中,有些產(chǎn)品的失效率曲線是遞增型、遞減型和常數(shù)型,而宏觀表現(xiàn)出來(lái)的是由三種類型的失效率
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