1)通過(guò)試驗(yàn)來(lái)確定電子元器件的可靠性特性值。試驗(yàn)暴露出在設(shè)計(jì)、材料、 AD1849KP工藝階段存在的問(wèn)題和有關(guān)數(shù)據(jù)，這對(duì)設(shè)計(jì)者、生產(chǎn)者和使用者都是非常有用的。

   2)通過(guò)可靠性鑒定試驗(yàn)，可以全面考核電子元器件是否已達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。這是電子元器件新品設(shè)計(jì)定型必須進(jìn)行的步驟。

   3)通過(guò)各種可靠性試驗(yàn)，了解產(chǎn)品在不同的工作、環(huán)境條件下的失效規(guī)律，確定失效模式，得到失效機(jī)理，以便采取有效措施，提高產(chǎn)品可靠性。

   可靠性試驗(yàn)的分類

   電子元器件常用的可靠性試驗(yàn)的分類方法很多�？煽啃栽囼�(yàn)按其試驗(yàn)地點(diǎn)和試驗(yàn)方式不同可分為兩大類：現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)（工作可靠性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量）和模擬試驗(yàn)（模擬實(shí)際工作狀態(tài)的試驗(yàn)）。試驗(yàn)室進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)多數(shù)屬于模擬試驗(yàn)。模擬試驗(yàn)按其試驗(yàn)性質(zhì)分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。

   可靠性試驗(yàn)按試驗(yàn)?zāi)康目煞譃榭煽啃澡b定試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)等。可靠性鑒定試驗(yàn)是為確定產(chǎn)品的可靠性特征值是否達(dá)到所要求的水平而進(jìn)行的試驗(yàn)；壽命試驗(yàn)是為評(píng)價(jià)分析產(chǎn)品的壽命特征值而進(jìn)行的試驗(yàn)；耐久性試驗(yàn)是為考察產(chǎn)品的性能與所施加的應(yīng)力條件的影響關(guān)系而在一定時(shí)間內(nèi)所進(jìn)行的試驗(yàn)；篩選試驗(yàn)是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進(jìn)行的試驗(yàn)；可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)是通過(guò)采取糾正措施，系統(tǒng)并永久地消除某些失效機(jī)理，使元器件可靠性獲得提高，從而滿足或超過(guò)預(yù)定的可靠性要求的試驗(yàn)�？煽啃栽囼�(yàn)分類如表3.2所示。