分別畫出面心立方晶格和體心立方晶格
發(fā)布時(shí)間:2016/11/1 20:45:08 訪問次數(shù):6566
1.分別畫出面心立方晶格和體心立方晶格(100),(110),(111)晶面上原子排列示意圖。
2,什么是直接帶隙?什么是間接帶隙半導(dǎo)體?并說明M25P64-VME6TG為什么發(fā)光器件一般不用si材料制作。
3,室溫條件,GaAs突變pn結(jié)的受主和施主雜質(zhì)濃度分別為蠅=8×1017cmˉ3不口凡=5×1016呷尸,假設(shè)雜質(zhì)完全電離,求解pn結(jié)在平衡態(tài)下的內(nèi)建電場、勢壘高度和耗盡層寬度。(室溫下,GaAs禁帶寬度幾=1,緄Cv,本征載流子濃度刀i=2。l×106cmˉ3)
4,計(jì)算h02Ga0:N/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)在c面的晶格失配大小和懸鍵密度。
5對于In02Ga0:N/GaN雙異質(zhì)結(jié)構(gòu),勢阱中電子濃度為5×101:cm3。室溫下,不考慮GaN材料的極化效應(yīng),計(jì)算此結(jié)構(gòu)通過電流時(shí),電子越過勢壘泄漏的比例。(己知:%(IllxGahN”幾(hN》(1ˉ)幾(GaN)細(xì)b=l.43;室溫下,GaN和InN的禁帶寬度分別為3釓V和0。刀cV,In02Ga0:N/G瘀的導(dǎo)帶不連續(xù)M‘=065明g)
參者資料
[1] 趙品,謝輔洲,孫振國,材料科學(xué)基礎(chǔ)教程(第3版),哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社,2009
[2] 孟慶巨,胡云峰,敬守勇 半導(dǎo)體物理學(xué)簡明教程,北京:電子工業(yè)出版社,⒛14.
l3] 馬品生,施倪承X射線晶體學(xué)一一晶體結(jié)構(gòu)分析基本理論及實(shí)驗(yàn)技術(shù)武漢:中國地質(zhì)大學(xué)出版社,
1.分別畫出面心立方晶格和體心立方晶格(100),(110),(111)晶面上原子排列示意圖。
2,什么是直接帶隙?什么是間接帶隙半導(dǎo)體?并說明M25P64-VME6TG為什么發(fā)光器件一般不用si材料制作。
3,室溫條件,GaAs突變pn結(jié)的受主和施主雜質(zhì)濃度分別為蠅=8×1017cmˉ3不口凡=5×1016呷尸,假設(shè)雜質(zhì)完全電離,求解pn結(jié)在平衡態(tài)下的內(nèi)建電場、勢壘高度和耗盡層寬度。(室溫下,GaAs禁帶寬度幾=1,緄Cv,本征載流子濃度刀i=2。l×106cmˉ3)
4,計(jì)算h02Ga0:N/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)在c面的晶格失配大小和懸鍵密度。
5對于In02Ga0:N/GaN雙異質(zhì)結(jié)構(gòu),勢阱中電子濃度為5×101:cm3。室溫下,不考慮GaN材料的極化效應(yīng),計(jì)算此結(jié)構(gòu)通過電流時(shí),電子越過勢壘泄漏的比例。(己知:%(IllxGahN”幾(hN》(1ˉ)幾(GaN)細(xì)b=l.43;室溫下,GaN和InN的禁帶寬度分別為3釓V和0。刀cV,In02Ga0:N/G瘀的導(dǎo)帶不連續(xù)M‘=065明g)
參者資料
[1] 趙品,謝輔洲,孫振國,材料科學(xué)基礎(chǔ)教程(第3版),哈爾濱:哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社,2009
[2] 孟慶巨,胡云峰,敬守勇 半導(dǎo)體物理學(xué)簡明教程,北京:電子工業(yè)出版社,⒛14.
l3] 馬品生,施倪承X射線晶體學(xué)一一晶體結(jié)構(gòu)分析基本理論及實(shí)驗(yàn)技術(shù)武漢:中國地質(zhì)大學(xué)出版社,
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