靜電放電敏感度測試就是利用規(guī)范的測試模型對靜電敏感器件做靜電測試,以了解其抗靜電放電的能力。K4D261638K-LC50通過將一個器件置于模擬的靜電放電過程中,可確定一個器件和物體的敏感度。由模擬的靜電放電過程所測試的敏感度等級,并不一定與實際情況下的敏感度等級相同。但是,它們還是被用來建立一個敏感度數(shù)據(jù)的底線,以比較不同制造商提供的同類產(chǎn)品。用于描述電子元器件特性的三個不同的模型是:人體放電模型,機器模型,和帶電器件模型。

   人體放電模型(Human Boψ M0dd,HBM)

   依照由人體模型標準所作的模型,靜電放電損壞來源于帶電的人體。這個測試模型表示,放電從人體的指尖傳到器件上的導(dǎo)電引腳。該模型通過一個開關(guān)組件,將充了電的100pF 電容器,在待測器件和與之相串聯(lián)的一個15OO歐姆電阻器上放電。放電本身具有2~10納秒上升時間,和大約150納秒脈沖寬度的雙重指數(shù)信號波形。使用15OO歐姆串聯(lián)電阻器,意味著這個模型接近一個電流源。所有器件都應(yīng)該被視為HBM敏感。器件的人體模型靜電放電敏感度,通過選用一個參考的測試方法去測試確定。人體模型是模擬人身上帶靜電,遵循的標準有MIL-sTD-833C METHOD30157,EIA/JEsD22訣1149JEDEC,1997)。