電子元器件參數(shù)的離散性較大
發(fā)布時間:2016/12/10 17:20:55 訪問次數(shù):720
在圖2.1電路中,當(dāng)流過偏置電阻R"和R田的電流遠大于晶體管9013的基極電流Ⅰ:時(一般為5~10倍時),則晶體管的靜態(tài)工作點可用下式估算交流輸出電阻.
由于電子元器件參數(shù)的離散性較大,因此在MAX202IPWR設(shè)計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調(diào)試技術(shù)。在設(shè)計前應(yīng)測量所用元器件的參數(shù),為電路設(shè)計提供必要的依據(jù),在完成設(shè)計和連接以后,還必須測量和調(diào)試放大器的靜態(tài)工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設(shè)計與實驗相結(jié)合的產(chǎn)物。囚此,除了學(xué)習(xí)放大器的理論知識和設(shè)計方法外,還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。
放大器的測量和調(diào)試一般包括:放大器靜態(tài)工作點的測量與調(diào)試、消除干擾及放大器各項動態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。
在圖2.1電路中,當(dāng)流過偏置電阻R"和R田的電流遠大于晶體管9013的基極電流Ⅰ:時(一般為5~10倍時),則晶體管的靜態(tài)工作點可用下式估算交流輸出電阻.
由于電子元器件參數(shù)的離散性較大,因此在MAX202IPWR設(shè)計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調(diào)試技術(shù)。在設(shè)計前應(yīng)測量所用元器件的參數(shù),為電路設(shè)計提供必要的依據(jù),在完成設(shè)計和連接以后,還必須測量和調(diào)試放大器的靜態(tài)工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設(shè)計與實驗相結(jié)合的產(chǎn)物。囚此,除了學(xué)習(xí)放大器的理論知識和設(shè)計方法外,還必須掌握必要的測量和調(diào)試技術(shù)。
放大器的測量和調(diào)試一般包括:放大器靜態(tài)工作點的測量與調(diào)試、消除干擾及放大器各項動態(tài)參數(shù)的測量與調(diào)試等。
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