由待測(cè)物把光反射到光電接收器。反射面的狀態(tài)可以呈光滑的鏡面，AD9268BCPZ-125可以呈粗糙狀。相應(yīng)地，光的反射形式有鏡面反射和漫反射兩種。它們反射的物理性質(zhì)不同，在光電檢測(cè)技術(shù)中的應(yīng)用機(jī)理也就不同。鏡面反射的光按一定方向反射，它往往用來判

斷光信號(hào)的有無，因此可用于光電準(zhǔn)直、電動(dòng)機(jī)等轉(zhuǎn)動(dòng)物體的轉(zhuǎn)速測(cè)量等方面。為一個(gè)測(cè)量轉(zhuǎn)速的應(yīng)用實(shí)例，軸轉(zhuǎn)動(dòng)一周，光電探測(cè)器4就獲得一個(gè)由光源1發(fā)出的反射光的脈沖，此脈沖數(shù)反映了軸的轉(zhuǎn)速。為了加強(qiáng)光在待檢測(cè)物上的反射作用，往往在待測(cè)物體上另加反射鏡，小平面鏡3的作用就是增強(qiáng)反射性能。所謂漫反射，是指一束平行光照射到某一表面上時(shí)，光向各個(gè)方向反射出去的現(xiàn)象。因此，在漫反射某一位置上的光電探測(cè)器只能接收到部分反射光，接收到的光通量大小與產(chǎn)生漫反射的表面材料的性質(zhì)、表面粗糙度及表面缺陷等因素有關(guān)，因而來用這種方式可檢測(cè)物體的外觀質(zhì)量。

   E為被檢測(cè)表面的光照度；r2為無缺陷表面的反射率；吒為缺陷表面的反射率； S為光電探測(cè)器有效視場(chǎng)內(nèi)缺陷所占面積；p為光電變換系數(shù)。

   由式(1.5)可知，當(dāng)Ev、r和∥為確定值時(shí)，Us僅與，i和S有關(guān)，而缺陷表面反射率r與缺陷的性質(zhì)有關(guān)。所以，從Us的大小可以判斷出缺陷的大小和面積。

   這種光反射式檢測(cè)原理，除上述應(yīng)用實(shí)例外，還有激光測(cè)距、激光制導(dǎo)、主動(dòng)式夜視、電視攝像、文字判度等方面的應(yīng)用。